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Chroma局部放電測試器系列產品結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial discharge)偵測功能於一單機，提供電驅動隔離控制IC、 光耦合器、隔離電源變壓器、IGBT模組或基板材料等之異常局部放電測試，讓產品安全性更上一層樓。
局部放電測試器
局部放電測試器
Model 19501-K
- 單機內建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
- 可程式交流電壓0.1kVac~10KVac
- 高精度及高解析度電流錶0.01uA~300uA
- 局部放電(PD)偵測範圍1pC~2000pC
局部放電測試器
Model 19501
- 交流高壓輸出&PD量測與主機分離式設計
- 內建法規測試要求的測試方法
- 三段電壓測試方法
- PD不良發生次數判定設定(1~10)
- 測試應用：IGBT、SiC-MOSFET、光耦合器、數位隔離器、控制隔離IC、隔離型D/D電源、大小型變壓器、馬達等
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