為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為複雜的發展驅勢，Chroma VLSI測試系統3380D/3380P/3380除採用更彈性架構外，整合密度更高，且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test)，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字通道管可並行測256個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。
3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。
3380D VLSI測試系統非常適合應用於IoT相關的晶片測試，尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI測試系統3380D/3380P/3380系列開發至今，已在大中華地區被廣泛的採用。
滿足各種應用範圍的晶片測試
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
