▲ 精確溫度控制平台

Chroma 58625為3D感測發光模組之特性測試設備，可結合各種不同光學模組於同一自動化平台，精準控制溫度並完成所有測試。依不同光學模組之安排，其測試內容涵蓋電性、光能量、波長、近場光學、遠場光學等各種光電特性參數，非常適合3D 感測發光元件之產品開發與產品品質出入料檢驗。

光能量與波長量測(LIV+λ)

搭配高性能積分球與高解析度光譜儀可應用於量測3D感測發光模組之光能量與波長特性，Chroma 58625並提供彈性化設計，使用者可依不同之測試需求自訂測試情境，透過光能量(Light Power)、電流(Current)、電壓(Voltage) 的掃描測試，可推算出各種光電參數如閥值電流(Ith)、光電轉換效率(PCE)、斜率效率(SE)。

遠場光學量測 (Far Field Test)

於3D感測發光模組的遠場光學量測應用上，Chroma 58625以屏幕投影式技術，可量測高達120度發散角之3D感測發光模組，利用Chroma開發之獨特演算法，分析遠場光型，獲得發散角、均勻性(beam uniformity)與IEC 60825人眼安全規範Class 1的自動判斷。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之測試需求。

▲ 遠場光學檢測模組

近場光學量測 (Near Field Test)

近場光學量測主要應用於3D感測模組中發光晶片(Laser Diodes)之近場光學量測，搭配高性能之顯微鏡模組與自動尋光平台，可量測雷射(Laser Diodes)之光腰寬(Beam waist W0)、發散角(divergence angle)、射束品質(beam propagation ratio M2)；另外，應用於多光源雷射(Laser array)時，透過Chroma獨特的影像分析技術可獲得雷射光強度均勻性(uniformity)之資訊。

▲ 近場光學檢測模組