Chroma 19305系列為繞線元件脈衝測試器，系列機種包含(Chroma 19305)單通道及(Chroma 19305-10)10通道輸出測試，最高擁有6kV脈衝電壓與200MHz高速取樣率提高放電檢測能力，10uH感量以上產品測試，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量(Flutter)及波形二階微分數(Laplacian)等判定方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。

繞線元件於生產檢測包含電氣特性、電氣安規耐壓進行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成線圈於使用環境中發生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源於初始設計不良、加工製程不良或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線圈層間短路測試有其必要性。

所謂的「繞線元件脈衝測試」基本上是以一「非破壞性」、高速、低能量之電壓脈衝施加在待測物上，再藉由分析/比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈衝測試主要功能乃在早期發現繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發覺之部分放電等。

Chroma 19305系列為針對繞線元件測試需求所設計，利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與待測線圈形成RLC並聯諧振，由諧振之衰減波形，透過高速且精密的取樣處理分析技術，可檢驗出線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、電感等繞線產品進行層間短路測試，讓繞線元件生產廠商及使用者在品質驗證時，不但擁有可靠的測試品質，能更有效率為產品品質把關。

Chroma 19305-10對於產線上的測試需求提供多通道掃描應用(最大10通道)，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節省測試時間及人力成本。

• 波形面積比較 (Area Size)
• 波形面積差比較 (Differential Area)
• 波形顫動總量 (Flutter Value)
• 波形二階微分數 (Laplacian Value)