Chroma 58605的高密度、多功能、溫控模組，提供雷射二極體老化測試。每個模組可提供高達128個SMU通道，每個通道可透過軟體，設定不同的電流值，並量測電壓。

在ACC模式下，控制電路可提供非常穩定的電流給每個雷射二極體。不管燒機中的雷射二極體有電壓或者溫度變化，燒機測試期間的供電流將保持預先設定好的固定值，電壓值則會被量測並記錄下來作為品質的參考依據。

依據外部光電二極體 (Photodiode) 受光激發所產生的回饋訊號，控制電路可以自動調整雷射二極體的電流保持固定的回饋訊號強度。這表示待測物在燒機期間的輸出光強度能一直保持在一個固定值。電壓與電流值則被記錄下來作為品質的參考依據。

專利設計的控溫平台 (Thermal plate) 能夠精確控制雷射二極體的外殼溫度或基板溫度，同時有很好的穩定性與均溫性。相較烤箱或烘烤爐類型的雷射二極體老化系統，Chroma的解決方案更加精簡、容易操作，更佳的效能與節省能源。另外，探針在待測物上僅留下極小痕跡，適合多樣性運作以及容易維護。

客戶可以在不同的模組設定不同的燒機溫度、電流條件、操作模式( ACC/APC)，以及不同的起始時間與燒機期間。模組化獨立控制所帶來的好處是提供更多的使用彈性，不同模組可同時測試不同的待測物，並且不產生電性或溫度的干涉。

獨特的電路設計使本系統可以在燒機的過程完整保護雷射二極體，不會有電流或電壓的突波產生，意外造成待測物的傷害。每個通道可設定電流和電壓的高/低限制，當觸發限制時，可關閉個別通道以保護待測物。當異常發生時，系統將關閉特定引發異常的通道，其他正常通道可持續正常運作，直到完成預定的任務。除了上述的保護功能外，全通道的SMU也包含通道絕緣(Isolation)與靜電 (ESD) 保護，形成完整的隔離防護。

燒機測試資料將儲存在系統的本地電腦中或指定的遠端伺服器。當模組與系統電腦通訊暫時中斷時，資料可暫存於模組中達6小時以上，當通訊恢復連線之後，暫存於模組中的資料將自動寫入系統電腦中或遠端伺服器，不會發生資料遺失。