液晶模組自動測試系統用閃爍量測探頭 Model A712306

液晶模組自動測試系統用閃爍量測探頭
產品特色
  • 可與液晶模組自動測試系統整合進行液晶模組自動閃爍調整
  • 可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統
  • 支援FMA和FLVL閃爍量測模式
  • 專利調整演算法,調整速度快
  • 搭配使用LCM Master軟體,可自行編輯調整腳本
  • 提供防碰撞、防靜電及防電磁干擾的保護套,可適用各種惡劣的使用環境

Chroma A712306 LCM自動測試系統用閃爍量測探頭,係專為液晶模組自動閃爍調整應用所設計,依循視頻電子標準協會(Video Electronics Standards Association, VESA)所規範的FMA(Flicker Modulation Amplitude)及JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)量測方法進行閃爍程度的量測,搭配使用Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統可達到自動閃爍調整的目的。

Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統的主要目的為提供待調整液晶模組的電源及訊號,依據不同的介面及尺寸可選購不同的型號及配件,透過291x LCM ATS並可控制A712306依據VESA所定義的FMA及JEITA兩種量測方法將閃爍值取,據此進行判定,當閃爍值大於規格值時將透過閃爍調整介面對待測物進行Vcom電壓的調整,搭配專利的閃爍調整演算法可快速的在數秒內完成整個調整程序。Chroma 291X系列液晶模組自動測試系統所搭配的自動閃爍調整程式並可針對不同型號的待測物編輯不同的腳本,不需再進行軔體的燒錄,可彈性的適用於市面上大部份具備數位Vcom功能的液晶模組,可有效提昇生產業者的測試效率,降低測試設備及人工成本。

  FMA量測原理

假如液晶顯示器的亮度變化如下圖所顯示,亮度的AC成份等於Vmax-Vmin,亮度DC成份等於 (Vmax+Vmin)/2。

根據VESA FMA 計算公式:FMA= AC lux. / DC lux. = (Vmax-Vmin)/{ (Vmax+Vmin)/2} x 100%

  FLVL量測原理

FLVL的量測方法,為將A712306的量測到的資料,傳送到符合人眼感受flicker的濾波器中,再將資料輸出到FFT分析儀,利用FFT分析儀得到不同頻率的能量分布。

JEITA標準Flicker計算方式:Flicker amount = 10 x log (Px/P0) [dB]

* P0 表示頻率0時的功率頻譜
* Px 表示在不同頻率時的功率頻譜 


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