Chroma 8020配接器/充電器自動測試系統適用於生產線上測試配接器與充電器的測試系統，8020可支援同時一次測試多顆待測物，大幅提昇生產線產能，並且兼具Chroma 8000系統靈活的硬體架構，可選擇多種硬體例如交流電源供應器、電子負載、時序/雜訊分析儀、功率表等。

8020特別針對配接器與充電器特性，量身訂作並優化標準測試項目，測試效能佳，符合大量生產要求，另外，軟體功能操作簡單，容易使用，符合生產線需求。

Chroma 8020測試系統已針對業界的新測試需求，擴充硬體與增加新的測試項目例如符合Energy Star要求的平均效率測試等。另針對業界未來的新測試需求，可彈性加入具有報表製作、統計分析和管理功能的Chroma 8020測試系統軟體，能夠產生各種測試報表，進行系統管理，滿足現代化品保和生產線的需求。另外，此系統也能與製造資訊系統(Shop-Floor System)連線，以控制生產流程。

Chroma 8020自動測試系統運行於Windows7/10以上的作業環境下，在簡單易學的Windows環境下為測試工程師提供專用的電源測試系統，並且方便使用Windows資源。

Chroma 8020自動測試系統配備了針對待測物(配接器/充電器)特性優化後之標準測試項目，使用者只需在標準測試項目上定義測試條件和測試規格即可測試。優化後的測試項目涵蓋了7類電源測試要求：輸出特性(Output Performance)檢測待測物的一般性能、輸入特性(Input Characteristic)檢測電源的輸入參數、穩定度測試(Regulation Tests)檢測待測物在輸入電源和負載變化時的穩定性、時序和瞬態(Timing & Transient)測量開機及關機時的瞬時狀態及各事件的時間、保護測試(Protection Tests)觸發電源的保護電路、特殊測試(Special Tests)和特殊功能(Special Features)提供了測試電源的特殊功能與方法。

Chroma 8020自動測試系統的軟體平台，特別針對生產線上使用所需，整個軟體功能操作簡單。Chroma 8020自動測試系統的軟體運行於Windows7/10以上的作業環境，為其提供了必要的週邊支援。

Chroma 8020自動測試系統適合現代化的大規模量產生產線，可搭配支援Chroma Sajet製造資訊系統(Manufacturing Execution System, MES)進行測試站別、人員、產品序號及測試程式的控制與管理，以及測試數據上傳中央伺服器功能，達到測試程式集中管理與數據資料蒐集/報表分析等應用，協助客戶完成智能工廠之目標，提高產品品質、效能，降低生產成本，創造企業利益最大化。另Chroma可提供客製化Shop-Floor控制系統服務，連結客戶廠內既有MES，到目前為止已協助眾多海內外世界級製造大廠完成MES系統整合之實績案例。

此外，因應工業4.0全自動智能產線趨勢，Chroma 8020自動測試系統也完成系統硬體設備的狀態自檢功能，在每一次產品測試結束後便自動進行各硬體設備的狀態檢視，當有測試設備或系統發生異常時，Chroma 8020系統可整合數位I/O裝置，輸出數位訊號通知管理中心，並在本地端電腦將「系統開始測試時間」、「系統結束測試時間」，以及發生異常錯誤的訊息紀錄下來，方便使用者追朔參考、統計問題，以調整設備維護周期與調配。

研究發現智慧型手機使用電容屏的多點觸控螢幕，在充電過程中來自AC-DC充電器所產生的共模雜訊電壓突波在觸控時進入面板，嚴重影響觸控性能，常導致觸控讀取不準確或造成假性觸控訊號，因此手機廠商合力制定IEC62684標準，規範電池充電器的雜訊頻譜規格。

IEC62684 MoU標準規範定義了行動裝置充電器的共模雜訊的組成成分、規格限值與量測設置建議，致茂電子共模雜訊測試解決方案符合IEC62684規範要求且能快速穩定地進行充電器共模雜訊量測；Chroma 80611 時序/雜訊分析儀內建4Mhz低通濾波器，可滤除<250ns高频noise，符合可忽略<250ns高频noise的量測要求，搭配Chroma 8020系統達到自動化測試，滿足產線快速量產測試需求。

充電器共模雜訊基本測試架構

設備	型號	應用
輸入源	Chroma 6500/61600/61500 AC Source	IEC62684規範要求測試輸入電壓253Vac/50Hz
高通濾波器	Chroma設計	滤除50Hz基频漣波成分，且不會造成高頻noise衰減失真
▲ 上述波形CH2含50Hz基频漣波成分，CH1為經HPF濾波後，沒有造成高頻noise衰減或失真
共模雜訊量測儀	Chroma 80611時序/雜訊分析儀	内建4MHz LPF可滤除<250ns高频noise，符合IEC62684規範要求

與示波器量測比較

Chroma 80611 時序/雜訊分析儀採用類比電路量測方式應用於敏感的共模雜訊量測，可有效排除不穩定、不連續等非預期的干擾突波，穩定正確的量測共模雜訊；另外Chroma 80611的差模量測架構有別於示波器共地架構，可避免在multi-UUT測試時，待測物輸出共地造成雜訊特性互相影響問題。

示波器是以Digitizing方式量測，會量測所有screen上或cursor內的max峰值，包括不連續/不穩定的雜訊，及並非待測物本身特性產生的不想要量測到外來的干擾雜訊。