Chroma 正式推出 3650-S2 系列測試機的全新 UIS(Unclamped Inductive Switching) 功能模組，專為半導體元件的雪崩測試設計，特別適用於第三代半導體氮化鎵（GaN）和碳化矽（SiC）元件。這一新功能模組旨在解決測試長期存在的問題—無法獲得完整且準確的測試數據與波型資料。

隨著第三代半導體材料的快速發展，特別是在電動車和高效能電源轉換器等應用領域，對這些先進元件的準確測試需求也越來越高。然而，現有的測試設備往往無法提供全面且詳細的準確數據，對工程師的分析工作造成困難。

Chroma 的新UIS功能模組配備了先進的高速數據抓取 ADC 架構，能夠精確捕捉測試過程中的參數細節，並生成完整的波型資料。這一突破性功能幫助工程師深入分析元件的瞬態現象和電氣特性，準確識別產品的優缺點。

相較於市場上的其他產品，Chroma UIS功能模組在測試精度和穩定性方面大幅提升。該模組有效解決了電感值隨電流變動的問題，並提供高分辨率的波形捕捉能力，協助客戶快速發現元件的特點和潛在問題。

此外，該模組具備高電壓和高電流測試能力，並配備多項完善的安全保護機制，包括過電壓和過電流保護，確保測試過程的安全性。內建的自動數據記錄和分析工具大幅提升了測試量產和工程分析的效率，降低了人工處理中的錯誤。

Chroma 的UIS功能模組不僅提升了第三代半導體測試的精度和效率，也使得測試過程變得更加安全和可靠。這一創新功能將協助客戶在激烈的市場競爭中取得優勢，為未來的半導體技術發展提供強有力的支持。Chroma 致力於不斷推動技術進步，確保客戶在實現高效能和高可靠性測試的道路上始終領先一步。

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