全新HDRF2量測板卡:解決RF測試難題,激發半導體晶片潛能

25 Jun 2024

Chroma致茂電子推出最新射頻測試板卡HDRF2,專為半導體晶片射頻測試而設計,是Chroma 3680先進SoC測試系統的選配功能板卡。 HDRF2滿足了IoT、Broadcast等多領域的應用需求,更是各種內建RF功能的高階MCU和SoC晶片測試的理想選擇。

特點:

  • 最高提供4個VST(Vector Signal Transceiver),提高測試的靈活性和準確性。
  • 最高提供32個Port,可應對多種連接需求,實現更全面的測試。
  • 提供Direct Mount的連接方式,測試精度更勝以往,同時避免了RF測試失真和干擾問題,快速設定一氣呵成。
  • 操作簡單便捷,可快速進行量產,為客戶節省寶貴時間和成本。
  • 擁有優異的高頻特性和穩定性,能夠輕鬆應對各種複雜測試環境。
  • 可與Chroma 3680各式多功能高精度板卡(HDAVO高精度ADC/DAC, ...)搭配使用,實現更複雜的產品功能測試,提供全方位的解決方案。

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▲Chroma 3680 先進SoC測試系統與HDRF2射頻測試板卡

Chroma致力於推動卓越,並助力客戶實現測試過程的高效、準確和可靠。在射頻相關測試應用上,Chroma 3680 先進SoC測試系統搭配HDRF2射頻測試板卡使客戶得以在競爭激烈的市場中脫穎而出,成就每一次突破。

 

HDRF2 無線射頻功能單板

 

Chroma 3680 先進SoC測試系統