Quick Menu

패키지 레벨 테스트

Photonics모듈테스트시스템 Model58625
Photonics 모듈 테스트 시스템
Model 58625
  • 일체형 테스트 시스템
  • 유연한 테스트 스테이션 배치
  • 정밀 온도 제어 최대 -20~85℃
  • 대형 빔 각도 측정
HighChannelDensityBurn-inTester Model58604-C
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
  • Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
  • Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
  • Modular design for easy customization and maintenance
  • Comprehensive ESD protection
  • Independent channels for source and measurement
레이저다이오드번인(Burn-in)및신뢰성테스트시스템 Model58604
  • CE Mark
레이저 다이오드 번인(Burn-in) 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58604
  • 번인(Burn-in), 신뢰성 시험 및 수명 시험에 적합
  • ACC 및 APC 제어 모드
  • 개별 채널 구동 및 측정
  • 채널별 500mA 구동 전류 지원
  • 정밀 온도 제어 최대 125℃
  • 개별 모듈 동작
HighPowerLaserDiodeBurn-InandReliabilityTestSystem Model58605
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
  • Burn-in, reliability and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel for source and measurement
  • Spike-Free sourcing
  • Up to 6000 mA per channel and pulsing
포토다이오드번인및신뢰성테스트시스템 Model58606
포토다이오드 번인 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58606
  • 번인, 신뢰성 및 수명 테스트
  • 암전류 및 파괴 전압
  • 드로어당 256개 채널 무극성 장치 소스
  • 80V의 높은 바이어스 소스
레이저다이오드특성시험시스템 Model58620
레이저 다이오드 특성 시험 시스템
Model 58620
  • 엣지 방출 레이저 다이오드에 대한 풀 턴키 자동화 테스트
  • 고정밀 대용량 캐리어, 다른 자동화 장비와 교환 가능
  • 광 커플드 테스트에 대해 완벽히 자동화된 정렬