전 세계는 반도체 기술의 발전 덕분에 변화하고 있습니다. 지금은 인공지능이 5G와 만나는 시점, 자율주행차가 빅데이터 분석과 만나는 시점, 모든 것이 휴대용 기기로 통합되는 시점입니다. 반도체 테스트 시스템은 모든 종류의 기능을 작은 시스템에 통합하는 새로운 시대로 전환해야 합니다. 새롭게 부상하고 있는 PXIe 기반 플랫폼은 새로운 시대의 요구 사항을 충족시킬 수 있는 좋은 활로를 제공합니다. Chroma의 PXIe 반도체 테스트 솔루션은 고객에게 반도체 테스트를 완료하는 동시에 여러 공급업체의 기능성 계측기 모듈을 통합할 수 있는 다목적 작업 공간을 제공합니다.

Chroma 33020 PXIe 기반 프로그래밍 가능 전원 공급 카드는 반도체 테스트에 필요한 모든 기능이 탑재된 고도로 통합된 전원 공급 모듈입니다. 프로그래밍 가능 전압 및 전류 클램핑이 가능하며, 250mA에서 -6V에서 12V, 또는 5000mA에서 6V로, 8개의 독립적으로 프로그래밍 가능한 DC 전압의 높은 밀도를 가지고 있습니다. 출력은 최대 4A의 출력 전류와 함께 그룹화할 수 있습니다. 반도체 테스트 애플리케이션의 경우 이러한 장치 전원 공급 장치에는 탁월한 정확도를 제공하는 500ksps 샘플링 속도로 16비트 강제 전압 레벨과 18비트 측정 전압 분해능이 제공됩니다. 장치 설정 시간도 50uS에서 500uS로 설정하여 필요한 최대 테스트 속도를 달성할 수 있도록 크게 향상되었습니다.

Croma는 LabView 및 LabWindows 환경을 지원하는 것 외에도 전용 소프트웨어 제품군인 CRAFT를 제공합니다. Microsoft Windows 운영 체제에서 실행되는 CRAFT에는 테스트 프로그램 개발, 디버깅, 프로덕션 및 유지보수를 위한 전체 툴 세트가 포함되어 있습니다. 제작 툴에는 운영자 인터페이스, 테스트 데이터 출력, 비닝 및 시퀀스 제어, 웨이퍼 맵, 요약 도구 및 다양한 프로버/핸들러 드라이버 세트 등 사용이 간편한 GUI 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 사용자 디버깅 툴에는 데이터 로그, 디버그 플랜, TCM, Shmoo, 패턴 편집기, 파형 등이 포함됩니다. LabView 및 LabWindow 환경을 지원하며 디버깅 도구의 서브 세트가 제공됩니다. 또한 WGL/STIL/VCD/EVCD 변환을 처리할 수 있도록 타사 CAD-ATE 패턴 변환 툴도 지원합니다.