Chroma 1871은 대량 생산 _애플리케이션에 적용할 수 있게 칩 인덕터_의 Layer 테스트를 위해 특별히 설계된 자동 테스트 시스템입니다. 이 시스템은 Area, Laplacian 및 두 가지 새로운 테스트 기능 -ΔPeak Ratio 및 ΔResonant Area를 포함한 Chroma 19301A 임펄스 권선 시험기의 모든 테스트를 할 수 있습니다.
초소형 인덕터는 오늘날 전자 제품에 널리 사용되므로 전력 인덕터의 대량 생산이 필요합니다. Chroma 1871의 생산 커패시터는 최대 1,500ppm이며, 이는 요구되는 수량을 충족할 수 있습니다. 5_개의 _Layer short 테스트 스테이션을 사용하여 빠른 생산을 위해 한 번에 테스트를 수행합니다. 또는 R&D 또는 QA 사용을 위한 2개의 _Layer short 테스트 스테이션을 선택하여 효율적인 _방법으로 사용 할 수 있습니다.
Chroma 1871 크로마 1871은 얇은 제품을 고속으로 운반 할 수있는 원형 진동판을 사용합니다 원형 진동판은 가이드 레일 설계, 소재 감지 및 블로우 홀을 사용하여 공급 방향을 결정합니다. 이는 기존 선형 반복 기계 공급 장치에 비하면 빠르고 공간도 절약됩니다.
테스트를 위해 인덕터를 움직일 때, 기존의 반복 또는 터렛 형 제품은 노즐을 사용하여 인덕터를 끌어 당기는 효과 또는 부정확 한 위치로 인해 테스트하지 못하는 경우가 종종 있습니다. Chroma 1871은 테스트에 인덱스 디스크 설계를 사용합니다. 따라서 장비가 패쇄형 아키텍처 내에 있어 고속 이동 중에도 드롭 된 인덕터를 제거할 수 있습니다. 이는 기존 장비의 구조와 비교했을 때 더 빠르고 안정적입니다.
Chroma ATE Inc.는 전자 테스트 기술뿐만 아니라 자동 테스트 장비용 Fixture 설계도 전문으로 다루고 있습니다. Chroma 1871 테스트 스테이션에서 사용하는 테스트 소켓은 4선 측정 설계로 일반 자동 테스트 장비보다 훨씬 정확하고 안정적입니다. 테스트 소켓과 인덕터 연결에 적용되는 설계는 접촉이 보다 쉽고 기존의 프로브보다 제품 수명이 깁니다.
Chroma 1871은 생산 중에 실시간으로 테스트 상테를 모니터링하고 각 인덕터에 대해 수집된 테스트 데이터를 저장하는 독점 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 실시간 모니터링 기능은 제조 동안 생산 위험을 줄여 생산 유닛에 유익하고 불필요한 작업 시간을 단축해 줍니다. 데이터 수집 기능은 제품 분석 및 품질 제어를 위한 R&D 및 QA 에서 사용 할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 데이터 분석을 수행하여 제품 품질을 향상시키고 수익을 높일 수 있습니다.
응용 분야
RD 및 QA 검증용 2개의 _Layer short 테스트 스테이션
R&D 및 QA 부서에서 모든 제품의 품질을 점검할 수 있습니다. 따라서 제품 데이터 및 품질을 분석하기 위해 테스트 동안 데이터를 수집해야 합니다.
고속 제품 라인용 5개의 테스트 스테이션
생산 라인의 경우 5 개의 레이어로 구성된 짧은 테스트 스테이션을 선택하여 5 개의 인덕터를 테스트하여 동시에 빠른 생산을위한 테스트 시간을 단축 할 수 있습니다. 테스트 상태 및 데이터는 테스트 동안 모니터링 및 수집될 수도 있습니다.
