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ウェーハレベル試験システム

パッケージレベル試験システム

ウェーハレベル試験システム

短パルス駆動フォトニクスデバイスウェハプロービングテストシステム Model58636Series
短パルス駆動 フォトニクスデバイスウェハプ ロービングテストシステム
Model 58636 Series
  • 短パルス: ナノ秒（Nanosecond scale）スケールの短パルスをサポート
  • デジタル制御: VoS（VCSEL on System）やVoD（VCSEL on Driver）などの異種統合デバイスに対してデジタル制御をサポート
  • 波形測定: 波形出力モード（エンジニアリングモード）を使用することで、対象物の詳細な特性を把握することが可能。
  • 複数の対象物を同時測定: テスト時間を大幅に削減し、テスト効率を向上

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PhotonicsWaferProbingTestSystem Model58635Series
Photonics Wafer Probing Test System
Model 58635 Series
  • Up to 6" wafer
  • Support both QCW and CW operation
  • LIV test, Near Field test, Far Field test, LIV-λ & NF two-in-one test

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ウェーハチップ両面検査システム Model7940
ウェーハチップ両面検査システム
Model 7940
  • 両面同時カラー検査
  • 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ)
  • 自動ウェーハアライメント機能
  • ウェーハ形状/エッジ認識機能
  • 欠陥検出率99％以上

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