Quick Menu

ウェーハレベル試験システム

パッケージレベル試験システム

ウェーハレベル試験システム

短パルス駆動フォトニクスデバイスウェハプロービングテストシステム Model58636Series
短パルス駆動 フォトニクスデバイスウェハプ ロービングテストシステム
Model 58636 Series
  • ナノ秒スケールでのパルス駆動と測定を実現
  • VoS（VCSEL on Silicon）やVoD（VCSEL on Driver）などの異種統合デバイスに対してデジタル制御をサポート
  • 特許取得済みの2-in-1光学ヘッド設計により、一度のプロービングでLIV（光・電流・電圧）、波長、およびNFPを測定
  • Multi-siteおよびMulti-dieテストに対応し、テスト効率を向上

お問合せカートに入れる

PhotonicsWaferProbingTestSystem Model58635Series
Photonics Wafer Probing Test System
Model 58635 Series
  • Up to 6" wafer
  • Support both QCW and CW operation
  • LIV test, Near Field test, Far Field test, LIV-λ & NF two-in-one test

お問合せカートに入れる

ウェーハチップ両面検査システム Model7940
ウェーハチップ両面検査システム
Model 7940
  • 両面同時カラー検査
  • 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ)
  • 自動ウェーハアライメント機能
  • ウェーハ形状/エッジ認識機能
  • 欠陥検出率99％以上

お問合せカートに入れる

キーワードを入力しエンターを押してください > 検索を終える