半導体技術の進歩に伴って世界は変化していきます。AIと5Gが繋がり、自動運転とビッグデータ解析が繋がり、携帯機器にすべての情報が集約される時代です。半導体テストシステムは、あらゆる種類の機能を小さなシステムに統合する必要があり、新しい時代のエレクトロニクスへと変革する必要があります。PXIベースのプラットフォームは、新しい時代のニーズを満たすための方向性を示しています。クロマのPXIe半導体テストソリューションは、様々なサプライヤの機能的な計測モジュールを統合しながら、半導体テストを実行するための環境を提供します。

33020は、半導体テストの電源ニーズに対応するために設計された電源モジュールです。－6V～12V@250mA、6V@500mA出力の8チャンネル直流電源で、設定可能な電圧と電流保護クランプ機能を備えています。出力電流はチャンネルを並列させることで最大4Aまで増やすことができます。また、16bitのforce電圧と、18bitの測定電圧分解能を有し、500kspsのサンプリングレートによって高速な処理を行うことができます。デバイスセットアップも50µS～500µSまでとセトリングタイムも削減することができます。

LabViewとLabWindowsのサポートに加え、独自のソフトウェアツールCRAFTを提供しています。CRAFTは、テストプログラムの開発からデバッグ、プロダクション、メンテナンスまで、半導体テストに必要なツールを網羅しています。プロダクションツールには、"Operator Interface"、"Test data output"、"Binning and Sequence Control"、"Wafer Map"、"Summary Tool"と豊富なプローバ/ハンドラドライバを含み、デバッグツールには、"Data log"、"Plan Debug"、"TCM"、"SHMOO"、"Pattern Editor"、"Waveform"など、その他サブセットを含みます。また、WGL/STIL/VCD/EVCD変換に対応したサードパーティ製CAD→ATEパターン変換ツールにも対応しています。