バイアス コンペア モード

バイアスコンペアモードは、磁性部品にバイアス電流を流したときのインダクタンスの低下率を計算するためのものです。従来の絶対値判定法に比べて、飽和特性の悪いインダクタの選別にはパーセントドロップ法が有効です。

大電流に耐えるテストステーション

チップ型インダクタは非常に小型であるため、バイアス電流試験時に配線や冶具の影響を受けやすい。試験中はDUTに余分なバイアス電流が流れるため、試験ステーション全体が大電流に耐えられるようなテストプローブと導体構成にする必要があります。Chroma 1871Bインダクタバイアス電流自動試験機は、特に20Aまでの電流に耐えられるテストソケットとテストプローブで設計されています。正確で高速な精密測定器 Chroma 11050 シリーズ HF LCR メーターとChroma A110505　バイアス電流ソースをシステムに組み込み、試験の信頼性と安定性を高めています。

▲ 1871Bバイアス電流テストソケット

各ステーションに独立したNG（No Good：不良品）商品回収ボックスを設置

Chroma 1871Bは、同一のテスト目的を持つChroma 11050 + A110505を5セット搭載しています。分析を容易にするため、NG（No Good、すなわち不良品）製品は、異なる検査基準に従って明確に分類して収集されます。様々な不具合を解析し、製品の品質向上につなげることができます。

ユーザーフレンドリーなインターフェース

タッチパネルのインターフェースは、英語、中国語、日本語のいずれかに設定できます。また、生産ラインでの使用を想定したカウント機能や、エラーメッセージをインターフェースに直接表示することで、トラブルシューティングを効率的に行うことができます。

Chroma 11050シリーズHF LCRメータは、受動部品を高速で正確に測定・評価するために設計された精密試験器です。周波数範囲は1kHz～10MHz、60Hz～5MHz、75kHz～30MHzで、幅広い試験周波数での部品特性の分析に適しています。0.1%の基本測定精度で、安定した信頼性の高い測定結果を得ることができます。また、7msの高速測定により、自動化環境下での生産性を大幅に向上させました。

対応するChroma A110505 DCバイアス電流源は11050シリーズHF LCRメータで制御し、電流出力を調整する必要があります。100kHz〜10MHzの周波数で0〜20Aのバイアス電流を流すことができます。HF LCR メータと直流バイアス電流源を組み合わせる場合は、過渡電流による大きな電圧で LCR メータが破損しないように、バイアス電流保護ボックス A110504 を同時に適用する必要があります。従って、A110505直流バイアス電流源を使用する場合は、A110504バイアス電流保護ボックスも併用することをお勧めします。

Chroma 1871Bのデータ収集ソフトウェアA187100は、工場での使用に特化した設計になっています。基本的なデータ収集に加え、リアルタイムのXバーやRコントロールチャート、テストパラメータの設定機能など、研究開発、生産、QA部門のニーズを満たすソフトウェアです。

テストパラメータ設定、保存、呼び出し

Chroma 1871BはソフトウェアプラットフォームA187100を使用して、テストフィクスチャのゼロ校正を行うことができます。パラメータや判定条件の設定は、テストセットアップ内のすべての機器を個別に操作することなく、一度に行うことができます。また、試験パラメータをPCに保存し、別の製品を試験する際にもすぐに呼び出すことができます。

リアル タイムテスト監視

データ収集ソフトウェアChroma A187100は、各ステーションの投入数、良品数、不良品数、生産歩留まり、良品/不良品統計などのリアルタイムモニタリング機能を備えています。また、XバーやRチャートのリアルタイムモニタリング機能を追加することで、生産現場での製品の品質管理や異常の有無を確認することができます。

プロダクションレポートクエリーと統計分析

このソフトウェアでは、テストデータの基本情報、生産歩留まり、コントロールチャートなどを照会することができます。また、照会された管理図から試験データを解析し、管理限界を自動算出したり、試験監視機能で判定条件を設定することも可能です。