eDP BIST モジュールデザインは、GIS 成都工場のご要望に基づいて設計されており、BISTモードに入れるときに要求される信号や電源を供給できるようになっています。本モジュールをChromaエージングシステムと統合すると、完全なeDPパネルのエージングテストソリューションを提供できます。また、本モジュールは、各ラックがコントローラーを介して複数のバーンインテストを実行できる引き出しタイプのスタックアーキテクチャを採用しています。モジュールを、電子制御、信号、およびユーザーフレンドリーな操作インターフェースと統合すると、パワフルな機能テストを短時間で実行できます。
