半導体は、高集積化及び高機能化により、多くの用途に使われ進化しています。
この進化に対応できる高機能テスタが、求められています。
Chroma最新3680テストシステムは、デバイスの幅広い機能及び、様々なテスト要求に応えられる、柔軟なシステム構成を準備しています。 テストヘッドにいろいろな測定機能基板を、実装できるスロットを、24か所準備しています。
デジタル測定として、最大2048ピン／測定速度１Ｇｂｐｓ／ベクタメモリ容量256ＭＷ／総合タイミング精度±150ｐｓの高精度高速を実現できます。
また、アナログ測定として、ＨＤＡＤＤＡ２（高速ＡＤＣ／ＤＡＣ測定機能）／ＨＤＶＩ（高電圧測定機能）／HＤＡＶＯ（高周波測定機能）／400ＭｓｐｓＡＷＧ（任意波形発生機能）、250ＭｓｐｓＤＩＧ（デジタイザ機能）／高精度高周波測定用24ビットＡＷＧ＆ＤＩＧのオプションをそろえています。
3680は、ＡＣ／ＤＣ電源用メインフレームからテストヘッドに電源を供給します。
また、テストヘッドをマニュピュレータで抱えることで、各種自動機（ハンドラ／プローバ）に、容易に接続することができます。
本システムは、高効率測定／多数個同時並列測定により、開発現場及び量産現場の生産性向上に寄与します。
また、高速／高精度／高信頼性及び、使いやすい操作環境で、各種民生用デバイス／高機能マイクロプロセッサ／アナログデバイス／ＳＯＣ測定のサポートをします。
用途
- マイクロプロセッサ (MCU)
- デジタルオーディオ
- デジタルＴＶ (DTV)
- 放送機器用デバイス(STB)
- 高速信号処理プロセッサ (DSP)
- ネットワークプロセッサ
- プログラム可能ゲートアレイ(FPGA)
