Il misuratore RF LCR Chroma 11090-030 fornisce una soluzione di misurazione e valutazione ad alta frequenza per componenti passivi come induttori di chip SMD e filtri RF. Con una frequenza di test fino a 300 MHz, questo strumento non solo soddisfa la crescente domanda di test di frequenza nominale di componenti come convertitori a punto di carico (POL) o piccoli convertitori CC-CC, ma affronta anche anomalie della qualità rilevabili solo a frequenze ultra-elevate. Inoltre, può soddisfare le comuni esigenze di test di impedenza a 100 MHz per componenti come filtri EMI e perline di ferrite.
Questa soluzione copre parametri di misurazione come Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q e altri parametri primari e secondari necessari per testare vari componenti passivi. L'ampio intervallo di frequenza di test da 100 kHz a 300 MHz, utilizzando la tecnologia di conversione corrente-tensione RF, fornisce un intervallo di misurazione dell'impedenza più ampio rispetto agli analizzatori di rete e un intervallo di misurazione della frequenza più elevato rispetto alla tecnologia a ponte di bilanciamento automatico. Ciò lo rende adatto per l'analisi delle caratteristiche dei componenti passivi a diverse frequenze da parte di unità di ricerca e sviluppo e di controllo della qualità. Inoltre, il generatore di segnale a bassissimo rumore e bassa distorsione armonica dello strumento fornisce un segnale di misurazione di alta qualità, migliorando la precisione dei test di impedenza.
Il misuratore 11090-030 ha una precisione di misurazione di base dello 0,8%, garantendo pertanto risultati di misurazione altamente stabili e affidabili. La rapida velocità di misurazione di 0,5 ms aumenta significativamente l'efficienza di produzione se utilizzata in un ambiente automatizzato. La fixture di test SMD è compatibile con vari tipi di dispositivi a montaggio superficiale di piccole dimensioni e adotta un metodo di attuazione push down migliorato, in grado di ruotare di 90 gradi e che richiede solo tre passaggi per modificare il DUT (il test effettivo richiede circa 40 secondi). In tal modo è possibile accelerare la velocità del test riducendo il tempo impiegato per cambiare DUT di dimensioni diverse ed eliminando la necessità di ripetere il riassemblaggio delle guide del dispositivo, riducendo anche i costi di usura e manutenzione.
Grazie al suo design completo e ai potenti miglioramenti nel funzionamento, Chroma 11090-030 garantisce una soluzione di test completa per la caratterizzazione dei prodotti, test rapidi in linee di produzione automatizzate e varie applicazioni di controllo in entrata e in uscita
I piccoli induttori ad alta frequenza sono per lo più del tipo stampato in metallo. Tuttavia, anomalie come ① materiale magnetico originale di scarsa qualità (polvere metallica di grandi dimensioni/pellicola di ossido di ferro difettosa), ② danno parziale alla pellicola di ossido dopo il test di avvolgimento ad impulso o ③ danno all'isolamento dello smalto della bobina che porta al contatto diretto con il materiale magnetico, possono tutti causare un riduzione del fattore qualità (Q), rendendoli suscettibili al surriscaldamento durante l'utilizzo successivo. Quando si testano questi tre tipi di anomalie in condizioni di test di frequenza nominale, il valore Q è significativamente influenzato dalla resistenza di contatto della sonda a causa della bassa impedenza dell'induttore. Aumentando la frequenza di test per aumentare l'impedenza e ridurre l'impatto della resistenza di contatto della sonda, è possibile migliorare il tasso di rilevamento delle anomalie nel materiale magnetico e nell'isolamento del filo. Questo metodo è ampiamente adottato nel settore degli induttori.
La maggior parte delle polveri metalliche magnetiche utilizzate per gli induttori hanno le superfici trattate con una pellicola di ossido per ridurre le perdite di correnti parassite causate dalla corrente alternata ad alta frequenza, espandendo a loro volta l’intervallo di frequenza utilizzabile riducendo le perdite di potenza e il calore. Anche se gli utenti non sono in grado di determinare la dimensione della polvere e l'integrità dello stampaggio a compressione e della sinterizzazione della pellicola di ossido dall’aspetto esterno, i test ad alta frequenza sono efficaci per individuare queste caratteristiche.
La Figura 1 mostra un circuito equivalente ad alta frequenza per un induttore e la formula della relazione tra induttanza (Ls) e Q. È comune nel settore utilizzare un valore Ls vicino alla frequenza di autorisonanza (SRF) per rilevare le anomalie della qualità descritte in precedenza. Si tratta essenzialmente di un controllo per verificare se il valore Q è basso evitando l'impatto della resistenza di contatto. Gli induttori normali hanno valori di L più alti vicino alla loro frequenza di autorisonanza a causa della capacità parassita, mentre i prodotti difettosi presentando valori di L più bassi a causa di valori Q significativamente ridotti derivanti da perdite eccessive. L'ampio intervallo di test 100kHz-300MHz del misuratore Chroma 11090-030 soddisfa i doppi requisiti di test di Ls/Q nominale e Ls ad alta frequenza, soddisfacendo le esigenze di produzione di tali induttori. Il rilevatore è adatto anche per la ricerca e sviluppo, il controllo qualità e i casi d'uso generali di induttori.
▲ (Figura 1) Circuito equivalente ad alta frequenza per induttore e formula Ls-Q
▲ (Figura 2) Misure campione e curve esplicative
Il misuratore Chroma 11090-030 impiega il metodo di misurazione RF-IV per misurare la tensione e la corrente del dispositivo sotto test (DUT). Rispetto agli analizzatori di rete convenzionali, il misuratore 11090-030 fornisce misurazioni più precise su un intervallo di impedenza più ampio (100 mΩ~5 kΩ) ed è in grado di misurare valori di induttanza piccoli fino a pochi nH. Inoltre, l'ampio intervallo di frequenze del misuratore 11090-030 (da 100 kHz a 300 MHz) si rivolge ai DUT con requisiti di test a doppia frequenza che coinvolgono centinaia di livelli di kHz e di MHz, eliminando la necessità di implementare apparecchiature di test a parte in più set o stazioni e quindi riducendo i costi di approvvigionamento.
▲ Tempo di misurazione Lento, segnale di test 1 dBm, numero medio di volte ≧ 8, at 23℃.
Nota1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, la calibrazione viene eseguita (a 23 ± 5°C)
Note2. Freq = 100 Mhz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, la calibrazione viene eseguita (a 23 ± 5°C)
Note3. Freq = 1 Mhz, Ave = 8, OSC = 1 dBm, la calibrazione viene eseguita (a 23 ± 5°C)
Funzione di guida alla calibrazione/compensazione
Una calibrazione precisa (OPEN/SHORT/LOAD) è fondamentale nelle misurazioni LCR a radiofrequenza. Eventuali errori o omissioni nella procedura di calibrazione possono comportare risultati imprecisi. Il misuratore 11090-030 è dotato di un metodo di calibrazione/compensazione guidato che elimina gli errori in questo processo complesso. La procedura di calibrazione guidata e intuitiva riduce il rischio di dimenticare passaggi, è dotata di una guida grafica per ridurre al minimo gli errori nella selezione dei componenti standard e offre visualizzazioni corrispondenti per gli utenti che hanno completato il processo di calibrazione.
▲ Menù di calibrazione/compensazione
▲ Menù di calibrazione
▲ Menù di compensazione
Controllo contatti per componenti magnetici tramite Rdc
I componenti di dispositivi a montaggio superficiale sottoposti a misurazioni LCR a radiofrequenza sono generalmente molto piccoli e determinare la qualità del contatto con le fixture di prova o nei test automatizzati è impegnativo. Il misuratore 11090-030 fornisce una funzione di controllo dei contatti per componenti magnetici che utilizzano la resistenza a corrente continua Rdc. Dal momento che Rdc è un parametro che non richiede calibrazione e offre il modo più diretto per confermare il contatto dei componenti magnetici (induttori, filtri EMI, perline), questa funzione consente di ottenere un ordinamento più preciso dei difetti sulla linea di produzione e migliora l'efficienza di classificazione dei prodotti difettosi.
Funzione di confronto e classificazione multiparametrica
Il test di radiofrequenza implica la determinazione della qualità dei prodotti o dei difetti in diversi domini di frequenza, che possono variare a causa di diversi parametri, valori assoluti, percentuali, focus dei parametri principali e secondari e metodi di giudizio alto/basso. Il misuratore Chroma 11090-030 offre un formato a tabella altamente flessibile con un massimo di 13 bin, ciascuno con quattro valori limite. Condizioni come la frequenza e i parametri di misurazione possono essere impostati in modo indipendente per ciascuna colonna, consentendo al misuratore 11090-030 di soddisfare diversi requisiti di ordinamento, inclusi parametri diversi con frequenze di misurazione diverse.
Test multipunto e disegno di curve con un massimo di 401 punti
I componenti RF spesso richiedono l'analisi delle modifiche della risposta in frequenza dei parametri su più domini di frequenza. La funzione di misurazione multipunto del tester 11090-030 consente di impostare fino a 401 punti, fornendo valori di misurazione dettagliati e precisi. Consente la scelta di elenchi multipunto e tracciamento di curve caratteristiche, che consentono al personale che esegue test e analisi della produzione di acquisire una rapida comprensione delle caratteristiche di frequenza dei componenti.
▲ Elenco multipunto
▲ Tracciamento simultaneo di curve multiparametriche
▲ Tracciamento simultaneo di curve a singolo parametro
Funzionamento chiaro e guidato
Tramite un display LCD a sfioramento a colori e ad alta risoluzione, il misuratore 11090-030 visualizza chiaramente i risultati e le impostazioni dei test di più parametri, i risultati di confronto e ordinamento e le deviazioni dai valori di riferimento. Icone facilmente identificabili indicano lo stato dello strumento e forniscono indicazioni per operazioni rapide, consentendo la massima fruibilità e informazioni complete.
Brevetto TW M621845/CN 216013502U
I componenti di dispositivi a montaggio superficiale sono disponibili in varie misure e minuscole, richiedendo materiali speciali estremamente precisi per il posizionamento. Tuttavia, il cambiamento delle dimensioni spesso richiede il riassemblaggio delle guide del dispositivo, il che non solo richiede molto tempo ma rischia anche di danneggiare componenti e spessori costosi. La fixture di test SMD è compatibile con vari tipi di dispositivi a montaggio superficiale di piccole dimensioni e adotta un metodo di attuazione push down migliorato, in grado di ruotare di 90 gradi e che richiede solo tre passaggi per modificare il DUT (il test effettivo richiede circa 40 secondi). In tal modo è possibile accelerare la velocità del test riducendo il tempo impiegato per cambiare DUT di dimensioni diverse ed eliminando la necessità di ripetere il riassemblaggio delle guide del dispositivo, riducendo anche i costi di usura e manutenzione successivi.
Il misuratore 11090-030 offre una gamma completa di interfacce, tra cui interfacce per l'impostazione delle condizioni di misurazione, l'attivazione di operazioni di misurazione, la determinazione dei risultati misurati e la raccolta dei dati misurati. Sono incluse le interfacce di archiviazione LAN, GPIB, USB (tipo B), RS-232 e USB (tipo A). Attraverso l'interfaccia Handler è possibile attivare le misurazioni ed esportare i risultati del giudizio.
▲ Nota: la porta USB non può essere utilizzata per caricare power bank, telefoni cellulari o dispositivi con requisiti di corrente superiori a 0,5 A
