Le compteur LCR RF Chroma 11090-030 offre une solution de mesure et d'évaluation à haute fréquence pour les composants passifs tels que les inducteurs à puce SMD et les filtres RF. Avec une fréquence de test de jusqu'à 300 MHz, cet instrument répond non seulement à la demande croissante de tests de fréquence nominale de composants comme les POL ou les petits convertisseurs CC-CC, mais aussi aux anomalies de qualité qui ne peuvent être détectées qu'à des fréquences ultra-élevées. En outre, il peut répondre aux besoins courants de test d'impédance à 100 MHz pour des composants comme les filtres EMI et les billes en ferrite.
Cette solution couvre les paramètres de mesure, comme Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q et d'autres paramètres principaux et secondaires nécessaires pour tester divers composants passifs. La large plage de fréquences de test de 100 kHz à 300 MHz, utilisant la technologie de conversion courant-tension RF, fournit une plage de mesure d'impédance plus large que les analyseurs de réseau et une plage de mesure de fréquence plus élevée que la technologie de pont d'équilibrage automatique. Il convient donc à l'analyse des caractéristiques des composants passifs à différentes fréquences par les unités de R&D et d'assurance qualité. En outre, le générateur de signaux à très faible bruit et à faible distorsion harmonique de l'instrument fournit un signal de mesure de haute qualité qui améliore la précision des tests d'impédance.
Le 11090-030 a une précision de mesure de base de 0,8 %, ce qui garantit des résultats de mesure très stables et fiables. La vitesse de mesure de 0,5 ms augmente considérablement l'efficacité de la production lors d'une utilisation dans un environnement automatisé. Le système de test SMD est compatible avec divers types de SMD de petite taille et utilise une méthode améliorée d'actionnement par poussée vers le bas, qui peut tourner par 90 degrés et ne nécessite que trois étapes pour changer le DUT (le test réel dure environ 40 secondes). Cela accélère la vitesse des tests en réduisant le temps utilisé pour changer des DUT de tailles différentes et en éliminant le besoin de réassemblage répété des guides de dispositifs, ce qui réduit également les coûts d'usure et de maintenance.
Grâce à sa conception complète et à ses puissantes améliorations fonctionnelles, le Chroma 11090-030 offre une solution de test complète pour la caractérisation des produits, les tests rapides sur les lignes de production automatisées et diverses applications d'inspection à l'entrée et à la sortie.
Les petits inducteurs d'alimentation à haute fréquence sont le plus souvent de type métallique moulé. Toutefois, des anomalies comme ① un matériau magnétique d'origine de mauvaise qualité (poudre métallique importante/film d'oxyde de fer défectueux), ② une détérioration partielle du film d'oxyde après un test d'enroulement par impulsion, ou ③ une détérioration de l'isolation de l'émail de la bobine entraînant un contact direct avec le matériau magnétique, peuvent toutes entraîner une réduction du facteur de qualité (Q), ce qui les rend susceptibles de surchauffer au cours d'une utilisation ultérieure. Lorsque vous testez ces trois types d'anomalies dans des conditions de test à fréquence nominale, la valeur Q est fortement influencée par la résistance de contact de la sonde à cause de la faible impédance de l'inducteur. En augmentant la fréquence de test pour élever l'impédance et réduire l'impact de la résistance de contact de la sonde, le taux de détection des anomalies dans le matériau magnétique et l'isolation du fil peut être amélioré. Cette méthode est largement adoptée dans l'industrie des inducteurs.
La surface de la plupart des poudres métalliques magnétiques utilisées pour les inducteurs est traitée avec un film d'oxyde pour réduire les pertes par courant de Foucault causées par le CA haute fréquence, ce qui permet d'élargir la plage de fréquence utilisable tout en réduisant les pertes de puissance et la chaleur. Bien que les utilisateurs ne puissent pas déterminer la taille de la poudre et l'intégrité du film d'oxyde lors du moulage par compression et du frittage à partir de leur aspect extérieur, les tests à haute fréquence sont efficaces pour discerner ces caractéristiques.
La figure 1 montre un circuit équivalent haute fréquence pour un inducteur et la formule de la relation entre l'inductance (Ls) et Q. Il est courant dans l'industrie d'utiliser une valeur Ls proche de la fréquence d'auto-résonance (SRF) pour détecter les anomalies de qualité décrites plus haut. Il s'agit essentiellement de vérifier si la valeur Q est faible tout en évitant l'impact de la résistance de contact. Les inducteurs normaux ont des L plus élevés près de leur SRF en raison de la capacité parasite, tandis que les produits défectueux ont des L plus faibles à cause de valeurs Q considérablement réduites résultant d'une perte excessive. La plage de test étendue de 100 kHz - 300 MHz du Chroma 11090-030 répond aux doubles exigences de test des Ls/Q nominaux et des Ls à haute fréquence, satisfaisant ainsi les besoins de production de ces inductances. Le testeur est également adapté à la R&D, à l'assurance qualité et aux cas d'utilisation généraux des inducteurs.
▲ (Figure 1) Circuit équivalent haute fréquence de l'inducteur et formule Ls-Q
▲ (Figure 2) Exemples de mesures et courbes explicatives
Le Chroma 11090-030 utilise la méthode de mesure RF-IV pour mesurer la tension et le courant de l'appareil testé (DUT). Par rapport aux analyseurs de réseau classiques, le 11090-030 fournit des mesures plus précises sur une plage d'impédance plus large (100 m Ω~5 kΩ), et est capable de mesurer des valeurs d'inductance aussi petites que quelques nH. En outre, la large plage de fréquences du 11090-030 (100 kHz à 300 MHz) répond aux besoins des DUT à double fréquence qui impliquent des fréquences de l'ordre de centaines de kHz et de MHz, ce qui élimine la nécessité de déployer des équipements de test distincts dans plusieurs ensembles ou stations et réduit ainsi les coûts d'approvisionnement.
▲ Temps de mesure Lent, signal de test 1 dBm, nombre moyen de fois ≧ 8, à 23℃.
Remarque 1. Moy = 8, OSC = 1 dBm, l'étalonnage est effectué (at 23 ± 5°C)
Remarque 2 . Fréq = 100 MHz, Moy = 8, OSC = 1 dBm, l'étalonnage est effectué (at 23 ± 5°C)
Remarque 3 . Fréq = 1 MHz, Moy = 8, OSC = 1 dBm, l'étalonnage est effectué (at 23 ± 5°C)
Fonction de guide d'étalonnage/compensation
Un étalonnage précis (OPEN/SHORT/LOAD) est crucial pour les mesures LCR RF. Toute erreur ou omission dans le processus d'étalonnage peut donner des résultats incorrects. Le 11090-030 est doté d'une méthode d'étalonnage/compensation guidée qui élimine les erreurs dans ce processus complexe. La procédure d'étalonnage guidée conviviale réduit le risque d'étapes manquantes, fournit des conseils graphiques pour minimiser les erreurs dans la sélection des composants standard et offre des affichages correspondants pour les utilisateurs qui ont terminé le processus d'étalonnage.
▲ Menu d'étalonnage/compensation
▲ Menu d'étalonnage
▲ Menu de compensation
Contrôle de contact pour les composants magnétiques via RDC
Les composants SMD soumis à des mesures LCR RF sont généralement très petits, et la détermination de la qualité du contact avec des montages de test ou lors de tests automatisés est un problème. Le 11090-030 offre une fonction de contrôle de contact pour les composants magnétiques en utilisant la résistance au courant continu RDC. Puisque RDC est un paramètre qui ne nécessite pas d'étalonnage et offre le moyen le plus direct de confirmer le contact pour les composants magnétiques (inducteurs, filtres EMI, billes), cette fonction permet de trier plus précisément les défauts sur la ligne de production et d'améliorer l'efficacité de la classification des produits défectueux.
Fonction de comparaison et de classification multi-paramètres
Les tests RF consistent à déterminer la qualité des produits ou des défauts dans différents domaines de fréquence, qui peuvent varier en fonction de différences dans les paramètres, valeurs absolues, pourcentages, paramètres principaux et secondaires, et méthodes de jugement haut/bas. Le Chroma 11090-030 offre un format de tableau très flexible avec jusqu'à 13 catégories, chacune ayant quatre valeurs limites. Les conditions telles que la fréquence et les paramètres de mesure peuvent être définies indépendamment pour chaque colonne, ce qui permet au 11090-030 de répondre à diverses exigences de tri, y compris différents paramètres sous différentes fréquences de mesure.
Test multi-point et tracé de courbe avec jusqu'à 401 points
Les composants RF nécessitent souvent l'analyse des changements de réponse en fréquence des paramètres sur plusieurs domaines de fréquence. La fonction de mesure multi-point du 11090-030 permet de définir jusqu'à 401 points, fournissant aux utilisateurs des valeurs de mesure détaillées et précises. Il offre le choix entre des listes multi-points et le tracé de courbes caractéristiques, ce qui aide le personnel de test et d'analyse de la production à obtenir une compréhension rapide des caractéristiques de fréquence des composants.
▲ Liste multi-points
▲ Tracé simultané de courbes multi-paramètres
▲ Tracé d'une courbe à paramètre unique
Utilisation claire et guidée
Utilisant un écran LCD haute résolution en couleur et tactile, le 11090-030 affiche clairement les résultats et les réglages de tests de multiples paramètres, les résultats de comparaison et de tri, ainsi que les écarts par rapport aux valeurs de référence. Des icônes facilement identifiables indiquent l'état de l'instrument et fournissent des instructions pour des opérations rapides, offrant aux utilisateurs une facilité d'utilisation ainsi que des informations complètes.
Brevet TW M621845/CN 216013502U
Les composants CMS sont de tailles diverses et minuscules, ce qui nécessite des matériaux spéciaux extrêmement précis pour le positionnement. Cependant, pour changer la taille, il est souvent nécessaire de réassembler les guides de l'appareil, ce qui prend du temps et risque d'endommager des composants et des cales coûteux. Le système de test SMD est compatible avec divers types de SMD de petite taille et utilise une méthode améliorée d'actionnement par poussée vers le bas, qui peut tourner à 90 degrés et ne nécessite que trois étapes pour changer le DUT (le test réel dure environ 40 secondes). Cela accélère la vitesse des tests en réduisant le temps utilisé pour changer des DUT de tailles différentes et en éliminant le besoin de réassemblage répété des guides de dispositifs, ce qui réduit également les coûts d'usure et de maintenance qui en découlent.
Le 11090-030 offre une plage complète d'interfaces, qui comprend des interfaces pour le réglage des conditions de mesure, le déclenchement des actions de mesure, la détermination des résultats de mesure et la collecte des données de mesure. Les interfaces LAN, GPIB, USB (type B), RS-232 et USB (type A) sont toutes incluses. Avec l'interface Handler, les mesures peuvent être déclenchées et les résultats du jugement peuvent être exportés.
▲ Remarque : Le port USB ne peut pas être utilisé pour charger des banques d'alimentation, charger des téléphones portables ou des appareils dont le courant requis est supérieur à 0,5 A.
