Le testeur de décharge partielle Chroma 19501-K combine les fonctions de test Hipot et de détecteur de décharge partielle (PD) dans un seul instrument. L'appareil est capable d'une sortie AC maximum de 10kV avec une plage de mesure du courant de fuite de 0,01uA à 300uA et une détection de décharge partielle minimum de 1pC. Le testeur est spécialement conçu pour tester les composants semi-conducteurs haute tension et les matériaux à haute isolation. La conception du 19501-K est conforme aux normes IEC 60270-1 et IEC 60747-5-5 et intègre les méthodes d'essai IEC 60747-5-5. Il répond non seulement aux exigences des tests de production pour les produits opto-coupleurs, mais offre également aux utilisateurs une interface conviviale et pratique d'utilisation. 

Lors de l'exécution d'un test Hipot sur la ligne de production, une mauvaise connexion entre DUT et le circuit de test, provoquera l'échec ou le contournement du test. Il est donc très important de s'assurer que la connexion entre DUT et le circuit de test est en bon état avant le test. Pour les composants à haute isolation, la fonction HVCC (Vérification des contacts haute tension) utilise la méthode de test Kelvin pour effectuer des inspections de contact simultanément avec le test Hipot pour améliorer la fiabilité et l'efficacité du test.