Récemment, les composants sont devenus plus compliqués et plus nombreux. Ce qui rend l'exécution des tests plus compliquée et différente. Non seulement c'est devenu plus compliqué et peut conduire à des erreurs, mais la main d'œuvre est également coûteuse.
Le Chroma 13001 peut exécuter des tests de balayage et d'alimentation à découpage pour une combinaison de mesures L, C, R et autres avec le pont RLC (Chroma 3302/3252, 11022/11025) et propose le rapport de transformation si le modèle en dispose et une combinaison de test d'isolement avec le Contrôleur d'isolement/CLC 11200 de Chroma. Il offre aussi une fonction courte pour la mesure d'inductance de fuite. Une unité peut héberger des modules jusqu'à 8 emplacements. Une unité contient jusqu'à 320 canaux si elle est combinée avec 8 des 40 canaux du module A1130007 en option. Elle fournit une conception maître et esclave et jusqu'à 8 unités esclaves pour plusieurs appareils à balayage. L'utilisateur peut contrôler le circuit de test de sortie par le biais de l'interface RS-232, GPIB ou USB.
Le Chroma 13001 peut être installé dans le composant ATE 8800 de Chroma pour le dispositif sous test, avec de nombreuses procédures pour tester par exemple l'équipement RJ-45, le substrat de verre, le substrat de verre LCD, le verre de circuit imprimé, la carte de circuits imprimés, le filtre anti-interférence électromagnétique, l'application TIC. Le système de test automatisé 8800 peut économiser de la main d'œuvre, réduire les erreurs et offre une gestion de données pour améliorer la qualité et l'efficacité.
