Chroma ATE introduit des solutions complètes pour le de test de composants TWS (True Wireless Stereo) incluant les tests radiofréquence (Wireless/ RF) et microcontrôleur (MCU) ainsi que la mesures de signaux numériques, analogiques et hybrides. La gamme comporte deux testeurs : Le Chroma 3380, solution économique qui répondra aux attentes visant à offrir une solution d’entrée de gamme économique et la série Chroma 3680 plus rapide et offrant de possibilités pour répondre pleinement aux besoins les plus innovants que demande les composants TWS haut de gamme.

Depuis quelques années les composants TWS sont de plus en plus utilisés. Alors que dans les premières années ils étaient juste installés dans les écouteurs et contrôlaient de simples CI Bluetooth ou des signaux audio, de nos jours les puces TWS trouvent leurs applications dans les haut-parleurs intelligents, les haut-parleurs sans fil, voire dans les appareils vestimentaires. De part là même le test de ces composants a évolué en passant de simples essais de communication Bluetooth, de test analogique ou à des tests incluant également les alimentations, la mémoire, les capteurs et bien d’autres encore.

Les testeurs de semi-conducteurs Chroma ATE sont reconnus depuis longtemps par l'industrie pour leur haut degré d'intégration logicielle et matérielle, ainsi que pour l'excellente qualité des tests numériques et analogiques qu’ils permettent de réaliser le tout à des prix raisonnables. La série Chroma 3380 est, sur le marché chinois, la solution la plus utilisée pour le test MCU. La série Chroma 3380 permet également de réaliser des tests Bluetooth complets RF grâce à plus de 90 dB de rapport signal / bruit lors des essais audio, ce qui permet de répondre à la totalité des exigences de test. Pour les produits plus haut de gamme offrant une haute sensibilité, la série Chroma 3680 réalise des tests à cadence élevée et permet des mesures d'une extrême précision des tensions et des courants. Ses capacités de mesure sur les signaux hybrides offre un rapport signal/bruit de plus de 110 dB. L'interface de test pour signal RF est spécialement conçue pour permettre son montage et démontage rapide sans perte de performance, caractéristique indispensable pour le test des TWS haut de gamme.

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