Chroma 19036 ist ein Analysator der elektrischen Sicherheitsprüfung (EST) für gewickelte Komponenten, in dem eine HiPot- (AC/DC), Isolationswiderstands- (IR), Gleichstromwiderstands- (DCR) und Impuls-Wicklungsprüfung (IWT) in einem Testgerät integriert sind. Er kann bis zu 5 kV Wechselspannung/6 kV Gleichspannung für die HiPot-Prüfung, bis zu 5 kV Gleichspannung für die IR-Messung, den Widerstand von 2 mΩ bis 2 MΩ für vieradrige DCR-Messung und bis zu 6 kV Gleichspannung für IWT ausgegeben. Zudem verfügt er über 10 Kanäle für die gleichzeitige Scanprüfung mehrerer Prüflinge (DUTs). Die Scanprüfung spart Prüfzeit und Laborkosten bei erheblicher Verbesserung der Produktionseffizienz und kann durch Anschluss von zwei externen Scanboxen mit 16 Kanälen auf bis zu 40 Kanäle erweitert werden.
Erkennung von Durchschlägen (ARC)
Das Phänomen eines elektrischen Durchschlags entsteht durch transiente oder diskontinuierliche Entladung, die von einem genügend hohen Potential-/Spannungsunterschied oder einem elektrischen Feld mit ausreichender Intensität erzeugt wird, wobei das Innere oder die Oberfläche eines Isoliermaterials seine ursprünglichen Isoliereigenschaften verliert. Ist die freigesetzte Energie der elektrischen Entladung hoch genug, um das Isoliermaterial des Produkts zu beschädigen, verkohlt das Isoliermaterial, bildet somit einen leitfähigen Pfad (Kriechstrom) und erzeugt einen Kurzschluss im Produkt. Stützt sich die Beurteilungsbedingung nur auf den Verluststrom, kann während der Prüfung keine anomale Entladung (Durchschlag) in fehlerhaften Produkten erkannt werden. Infolgedessen muss die Beurteilungsbedingung die Änderungsrate der Prüfspannung oder des Verluststroms heranziehen, um während der Prüfung eine anomale Entladung in fehlerhaften Produkten effektiv zu erkennen. Aus diesem Grund ist die Durchschlagserkennung ein wichtiger Prüfpunkt für die HiPot-Prüfung. Der 19036 verfügt durch Erkennung der Änderungsrate des Verluststroms über eine Durchschlagserkennung in den HiPot-Prüfungsmodi für sowohl Wechselstrom als auch Gleichstrom.
/Chroma_Page_19036_1.png)
▲ Vergleich einer HiPot-Prüfung für Wechselstrom ohne und mit Durchschlag
/Chroma_Page_19036_2.png)
▲ Vergleich einer HiPot-Prüfung für Wechselstrom ohne und mit Durchschlag
4-adrige / 2-adrige Messung
Alle 10 Kanäle des 19036 sind in der Lage, einen 4-adrigen Gleichstromwiderstand zu messen (2 mΩ~ 2 MΩ). Infolgedessen kann der 19036 eine DCR-Messung mit hoher Genauigkeit für gewickelte Komponenten (Motoren, Transformatoren usw.) durchführen, die mehrere Spulen/mehrere Wicklungen besitzen. Die Kanäle können mit Hilfe zwei externer Scanboxen auf Unterstützung von bis zu 40 Kanälen erweitert werden.
Externe Scanbox:
- 4-adrige Messung: A190362 (Anordnung mit vieradrigen Testkabeln)
- 2-adrige Messung: A190359 (Anordnung mit zweiadrigen Testkabeln)
DCR-Balance
Sind die Gleichstromwiderstände eines Motors nicht ausbalanciert, kann schnell sehr viel Energie verloren gehen und es können Vibrationen aufgrund von nicht balancierten Rotationen auftreten. Die Qualität verschlechtert sich allmählich im Laufe der Nutzungszeit. Die Beurteilungsmethode des DCR-Balance-Modus beruht auf dem Vergleich des Unterschieds zwischen maximalen und minimalen DCR-Werten aller Wicklungen. Sobald der Unterschied den zulässigen Einstellungsbereich überschreitet, wird das Produkt als fehlerhaft/NG bewertet. Dies ist ein effektives Zusatzwerkzeug für die Zuverlässigkeitsprüfung von Motorprodukten.
Temperaturkompensation
Bei der Messung von kleinen DCR-Werten tritt oft eine vom Temperaturunterschied verursachte Messabweichung auf. Daher variieren bei unterschiedlicher Temperatur die DCR-Messergebnisse mit der Temperatur. Die Funktion für Temperaturkompensation des 19036 zusammen mit einer Temperatursonde bedient sich des Temperaturkoeffizienten, um den gemessenen DCR-Widerstand auf Zieltemperatur umzuwandeln und dadurch den vom Temperaturunterschied verursachten Effekt zu mindern.
High-Speed-Kontaktprüfung (HSCC)
Ist ein offener Stromkreis in der Testschleife vorhanden, könnten fehlerhafte (NG) Produkte fälschlicherweise als gute Produkte beurteilt werden, wodurch ungültige Testergebnisse auftreten. Liegt ein Kurzschluss in der Testschleife vor, muss er vor der HiPot-Prüfung ermittelt werden/bekannt sein, um Schäden an/in der Testvorrichtung zu mindern. Die High-Speed-Kontaktprüfung kann sämtliche Testschleifen rasch scannen, um zu überprüfen, ob alle Kontakte zu den Prüflingen (DUTs) normal/einwandfrei sind, sodass die Kontaktprüfung schneller als je zuvor vor der HiPot-Prüfung durchgeführt werden kann.
Offener/kurzgeschlossener Kontakt (OSC)
Die Funktion zur Prüfung auf offenen Stromkreis/Kurzschluss (Patent-Nr. 254135) kann ermitteln, ob ein offener Stromkreis (schlechter Kontakt) zwischen der Testvorrichtung und dem Prüfling (DUT) und ein Kurzschluss zwischen der Wicklung und dem Eisenkern vorliegt. Das Beurteilungskriterium für die Prüfung auf offenen Stromkreis/Kurzschluss ist der Kapazitätswert der Testschleife. Sind die Testvorrichtung und der Prüfling (DUT) mit Sicherheit verbunden, liegt der Kapazitätswert der Testschleife innerhalb des zulässigen Bereichs. Aber wenn eine unsichere Verbindung zwischen der Testvorrichtung und dem Prüfling (DUT) vorliegt, ist der Kapazitätswert der Testschleife niedriger als der zulässige Bereich und wird als offener Stromkreis beurteilt; liegt ein Kurzschluss zwischen der Testvorrichtung und dem Prüfling (DUT) vor, ist der Kapazitätswert der Testschleife höher als der zulässige Bereich und wird als Kurzschluss beurteilt.
Hochfrequenz-Kontaktprüfung (HFCC)
Die beiden AC- und DC-HiPot-Prüfungsmodi des 19036 verfügen über eine Hochfrequenz-Kontaktprüfung. Die Hochfrequenz-Kontaktprüfung ähnelt der Prüfung auf offenen Stromkreis/Kurzschluss, bedient sich aber einer höheren Testfrequenz, um die Prüfung auf offenen Stromkreis/Kurzschluss für kleinere Kapazitäten (1 pF – 100 pF) zu verbessern.
In der Produktionsanlage werden HiPot-Prüfungen durch Prüfung von mehreren parallel geschalteten Prüflingen (DUTs) (Testpunkte) gleichzeitig durchgeführt, um die Prüfgeschwindigkeit während der Produktion zu verbessern. Sollte die Parallelprüfung aber ergeben, dass dieser Test nicht bestanden wurde, ist es hier schwierig, gute Produkte von fehlerhaften (NG) Produkten zu unterscheiden, sodass für diese Produkte eine Nachprüfung an einem anderen Prüfstand durchgeführt werden muss, um gute Produkte von fehlerhaften (NG) Produkten zu trennen, wodurch sich die Anzahl an Prüfständen erhöht und auch höhere Produktionskosten anfallen. Die SUB-Step-Funktion nutzt das nicht bestandene Ergebnis aus dem Hauptschritt als Auslösungsbedingung dafür, dass der SUB-Step ausgeführt wird. Infolgedessen wechselt der Testablauf zu den SUB-Steps (Einzelprüfungen) und führt individuelle Prüfungen durch, wenn die Prüfung im Hauptschritt (Parallelprüfung) nicht bestanden wird, sodass sich fehlerhafte (NG) Produkte schnell ermitteln lassen und die Produktivität und Inspektionsqualität optimiert wird.
/Chroma_Page_19036_3.png)
▲ Verdrahtungsdiagramm für die Prüfung mehrerer Transformatoren
/Chroma_Page_19036_4-EN.png)
Die FI-Schutzschalterfunktion (GFI) dient zum Schutz des Testbetreibers. Sollte der Betreiber plötzlich einen Stromschlag erhalten, kann die GFI-Funktion den Ausgang unverzüglich abschalten und so den Betreiber vor Verletzungen durch Elektrizität bewahren. Die GFI-Funktion vergleicht den Unterschied der Gesamtmenge an Rückstrom (i2) mit dem Rückstrom (i1) vom Rückstromanschluss, um den Rückstrom (iH) von der Erde/Masse zu ermitteln. Ist der Rückstrom (iH) von der Erde/Masse höher als 0,5 mA (typisch), wird der Ausgang unverzüglich abgeschaltet.
/Chroma_Page_19036_5.png)
▲ Schaltschema der FI-Schutzschalterfunktion (GFI)
Die "Impuls-Wicklungsprüfung" setzt die gewickelte Komponente einer "nicht zerstörerischen" High-Speed-Stoßspannung mit geringer Energie in geeigneter Prüfspannung aus und ermittelt durch Analyse/Vergleich des Unterschieds der mitschwingenden Wellenformen zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster, ob der Prüfling (DUT) ein gutes oder fehlerhaftes (NG) Produkt ist . Die Impuls-Wicklungsprüfung für die gewickelte Komponente dient dazu, den verborgenen Fehler zu ermitteln. Beispiele sind Kurzschluss zwischen einzelnen Lagen, Kurzschluss zwischen einzelnen Windungen, Durchschlagsentladung, Koronaentladung usw. Mit dem Oszillationsabklingen der mitschwingenden Wellenform, die durch Resonanz zwischen der Induktivität und der Streukapazität des Prüflings (DUT) erzeugt wird, kann ermittelt werden, ob die Qualität des Produkts gut ist. Der Zustand einer abklingenden Oszillation stellt den Energieverlust des Prüflings (DUT) während des Betriebs dar. Wird der Schalter eingeschaltet, wird der Prüfling (DUT) einer Stoßspannung ausgesetzt. Mit der dem Prüfling (DUT) zugeführten Prüfspannung wird überprüft, ob der Isolationsabstand zwischen den Windungen ausreicht. Wird der Schalter ausgeschaltet, schwingt die Induktivität des Prüflings (DUT) mit der Streukapazität mit. Mit dem Zustand einer abklingenden Oszillation der mitschwingenden Wellenform wird die Qualität des Prüflings (DUT) geprüft.
/Chroma_Page_19036_6-EN.png)
▲ Äquivalentes Schaltbild der Impuls-Wicklungsprüfung
/Chroma_Page_19036_7-EN.png)
▲ Die Wellenform der Impuls-Wicklungsprüfung
Fläche
Wird der Schalter eingeschaltet, wird der Prüfling (DUT) einer Stoßspannung ausgesetzt und der Prüfling (DUT) schwingt mit der Kapazität der Testschleife mit. Mit der Spitzenspannung wird der Isolationsabstand zwischen den Windungen des Prüflings (DUT) geprüft. Reicht der Isolationsabstand zwischen den Windungen nicht aus, der Prüfspannung der Impuls-Wicklungsprüfung zu widerstehen, kommt es zu einer Entladung zwischen den Windungen, wodurch die Gesamtfläche der mitschwingenden Wellenform kleiner wird.
Wird der Schalter ausgeschaltet, schwingt der Prüfling (DUT) mit der Streukapazität mit. Mit dem Zustand einer abklingenden Oszillation der mitschwingenden Wellenform wird die Qualität des Prüflings (DUT) geprüft. Der Zustand einer abklingenden Oszillation der mitschwingenden Wellenform wirkt sich auf die Qualität des Prüflings (DUT) aus. Ist der Prüfling (DUT) von schlechterer Qualität, klingt die mitschwingende Wellenform schneller ab, wodurch die Gesamtfläche der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT) kleiner wird als die des genehmigten Musters. Infolgedessen kann mit der Flächenbeurteilung ein Produkt mit unzureichendem Isolationsabstand oder von schlechter Qualität geprüft werden.
/Chroma_Page_19036_8.png)
▲ Flächendarstellung
Differenzfläche
Wird der Prüfling (DUT) einer Stoßspannung ausgesetzt, schwingt der Prüfling (DUT) mit der Kapazität der Testschleife mit. Unterscheidet sich die Induktivität des Prüflings (DUT) von derjenigen des genehmigten Musters, weicht auch die Resonanzfrequenz des Prüflings (DUT) von derjenigen des genehmigten Musters ab. Daher sind nicht überlappende Flächen zwischen den mitschwingenden Wellenformen des Prüflings (DUT) und des genehmigten Musters vorhanden. Die Beurteilung der Differenzfläche berechnet die Gesamtmenge an nicht überlappenden Flächen zwischen den mitschwingenden Wellenformen des Prüflings (DUT) und des genehmigten Musters und vergleicht diese Menge mit der Gesamtfläche der mitschwingenden Wellenform vom genehmigten Muster durch Anzeige des prozentualen Anteils. Es wird empfohlen, diese Beurteilung zusammen mit der Flächenbeurteilung zu verwenden, um das Produkt auszusortieren, das eine gewisse Induktivitätsabweichung zum genehmigten Muster aufweist.
/Chroma_Page_19036_9.png)
▲ Darstellung der Differenzfläche
Flutter
Wird der Prüfling (DUT) einer Stoßspannung ausgesetzt und ist der Isolationsabstand zwischen seinen Windungen zwar unzureichend, aber noch nicht so schlecht, dass es zu einem Isolationsdurchschlag kommt, tritt eine kleine elektrische Entladung auf (z. B. Koronaentladung). Da die freigesetzte Energie dieser kleinen elektrischen Entladung geringer ist als bei einem Isolationsdurchschlag, ist die Gesamtfläche der mitschwingenden Wellenform nicht stark beeinträchtigt. Daher lässt sich die kleine elektrische Entladung nur schwer mit der Flächenbeurteilung erkennen. Die Flutter-Beurteilung berechnet die gesamte vertikale Schwankung (nach oben und unten) der mitschwingenden Wellenform und vergleicht den Unterschied zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster. Tritt eine kleine elektrische Entladung auf, erhöht sich die gesamte vertikale Schwankung der mitschwingenden Wellenform, da es zu einigen Oszillationen in der mitschwingenden Wellenform kommt. Infolgedessen kann die Erhöhung der gesamten vertikalen Schwankung der mitschwingenden Wellenform dazu verwendet werden, die kleine elektrische Entladung zu erkennen.
/Chroma_Page_19036_10.png)
▲ Darstellung der kleinen elektrischen Entladung
Laplace-Operator
Tritt eine kleine elektrische Entladung auf (z. B. Koronaentladung), wird die mitschwingende Wellenform, die an sich gleichmäßig sein sollte, ungleichmäßig, da es zu einigen Oszillationen in der mitschwingenden Wellenform kommt. Daher ändert sich die Steigung der mitschwingenden Wellenform auf drastische Weise. Die Laplace-Operator-Beurteilung nutzt die Berechnung der zweiten Ableitung dazu, die maximale Rate der Steigungsänderung der mitschwingenden Wellenform zu berechnen. Daher kann die drastische Steigungsänderung der mitschwingenden Wellenform, die von der kleinen elektrischen Entladung verursacht wird, mit der Laplace-Operator-Beurteilung erkannt werden. Und sie kann das fehlerhafte Produkt, bei dem die kleine elektrischen Entladung während der IWT aufgetreten ist, effektiv aussortieren.
Δ-Spitze-%
Das Spitzenverhältnis korreliert mit dem Energieverlust der Leistung des Prüflings (DUT), wobei der Energieverlust der Leistung des Prüflings (DUT) auch mit der Qualität/dem Q-Wert des Prüflings (DUT) korreliert. Das Spitzenverhältnis kann die 3. Spitzenspannung (V3) und die 5. Spitzenspannung (V5) der mitschwingenden Wellenform automatisch ermitteln und den prozentualen Anteil der 5. Spitzenspannung (V5) dividiert durch die 3. Spitzenspannung (V3) berechnen. Dadurch sind Einstellungen weniger komplex und Nutzern fällt die Bedienung leichter. Folglich klingt bei schlechterer Qualität/schlechterem Q-Wert des Prüflings (DUT) die mitschwingende Wellenform des Prüflings (DUT) schneller ab und das Spitzenverhältnis ist kleiner.
/Chroma_Page_19036_11.png)
/Chroma_Page_19036_12.png)
▲ Darstellung von Spitzenverhältnis und Δ-Spitzenverhältnis
Ist die Qualität des Prüflings (DUT) schlechter/mangelhafter als die des genehmigten Musters oder klingt die mitschwingende Wellenform des Prüflings (DUT) schneller ab als die des genehmigten Musters, ist das Spitzenverhältnis der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT) schwächer/niedriger als das des genehmigten Musters. Die Δ-Spitze-%-Beurteilung subtrahiert das Spitzenverhältnis der mitschwingenden Wellenform des genehmigten Musters von dem Spitzenverhältnis der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT), um den Unterschied der Spitzenverhältnisse zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster zu vergleichen, woraufhin Δ-Spitze-% als negativ beurteilt wird. Infolgedessen kann die Δ-Spitze-%-Beurteilung effizient den Prüfling (DUT) aussortieren, der mehr Energie verliert als das genehmigte Muster.
/Chroma_Page_19036_13.png)
Δ-Resonanzfläche
Wird der Schalter ausgeschaltet, schwingt der Prüfling (DUT) mit der Streukapazität mit. Mit dem Zustand einer abklingenden Oszillation der mitschwingenden Wellenform wird die Qualität des Prüflings (DUT) geprüft. Der Zustand einer abklingenden Oszillation der mitschwingenden Wellenform wirkt sich auf die Qualität des Prüflings (DUT) aus. Ist der Prüfling (DUT) von schlechterer Qualität, klingt die mitschwingende Wellenform schneller ab, wodurch die Gesamtfläche der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT) kleiner wird als die des genehmigten Musters. Die Δ-Resonanzflächenbeurteilung ähnelt sehr der Flächenbeurteilung. Der einzige Unterschied liegt darin, dass die Δ-Resonanzflächenbeurteilung nur den Gesamtflächenunterschied zwischen der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT) und der mitschwingenden Wellenform des genehmigten Musters nach dem Abschalten des Schalters vergleicht. Daher kann die Δ-Resonanzflächenbeurteilung das Produkt von schlechter Qualität feinfühliger aussortieren als die Flächenbeurteilung.
/Chroma_Page_19036_14.png)
▲ Darstellung der Resonanzfläche
Δ Fr-%
Wird der Schalter ausgeschaltet, schwingt der Prüfling (DUT) mit der Streukapazität mit. Mit Hilfe des Unterschieds der Resonanzfrequenz zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster kann die Abweichung in der Induktivität oder der Streukapazität des Prüflings (DUT) geprüft werden. Da die Resonanzfrequenz des Prüflings (DUT) umgekehrt proportional zu seiner Streukapazität ist, führt eine jeweils höhere Resonanzfrequenz zu einer jeweils geringeren Induktivität oder Streukapazität. Andererseits führt eine jeweils niedrigere Resonanzfrequenz zu einer jeweils höheren Induktivität oder Streukapazität. Δ-Fr-% vergleicht anhand der Korrelation zwischen der Resonanzfrequenz des Prüflings (DUT) und seiner Induktivität oder Streukapazität den Unterschied der Induktivität oder Streukapazität zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster. Δ-Fr-% berechnet den Unterschied der Resonanzfrequenz zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster in Prozent. Aus diesem Grund kann der Unterschied der Induktivität oder Streukapazität zwischen dem Prüfling (DUT) und dem genehmigten Muster mit Δ-Fr-% geprüft werden.
/Chroma_Page_19036_15.png)
/Chroma_Page_19036_16.png)
Grafik zur Umwandlung von Δ-Fr-% und Δ-(L*C)-%
/Chroma_Page_19036_17.png)
▲ Δ-Fr-Darstellung
IWT-Vergleich
Ist der Unterschied zwischen den drei Wicklungen eines dreiphasigen Motorstators zu groß, könnte dies dazu führen, dass die Rotation des Motorrotors nicht ausbalanciert ist. Der IWT-Vergleichsmodus kann einen Quervergleich des IWT zwischen unterschiedlichen Wicklungen/Phasen vornehmen und das Produkt aussortieren, das einen großen Unterschied zwischen den Wicklungen/Phasen aufweist.
/Chroma_Page_19036_18.png)
▲ IWT-Vergleichsdarstellung
IWT-BDV-Modus
Der IWT-BDV-Modus (Modus IWT-Überschlagspannung) kann die höchste Spannungsfestigkeit der gewickelten Komponente ermitteln. Ein F&E-Techniker (Techniker in der Forschung und Entwicklung) kann das Produkt mit dem IWT-BDV-Modus analysieren und erforschen und die Schwachstelle des Produkts verbessern. Der IWT-BDV-Modus erhöht in prozentualen Anteilen von 100 Schritten (Vstep) allmählich die Prüfspannung von der Startspannung (Vstart) bis zur Endspannung (Vend). Während des Anstiegs der Prüfspannung wird die mitschwingende Wellenform jeder Prüfspannung mit der mitschwingenden Wellenform der vorherigen Prüfspannung verglichen. Überschreitet der Flächenwert oder der Laplace-Operator-Wert die Ober- oder Untergrenze (High oder Low), weist dies darauf hin, dass die Isolation zwischen den Windungen des Prüflings beginnt, sich anomal zu verhalten, oder bereits anomal ist, woraufhin die vorherige Prüfspannung als höchste Spannungsfestigkeit des Prüflings (DUT) beurteilt wird, nämlich als seine Überschlagspannung.
Komponenten: Motorstator, Transformator, Induktor usw.
Während der Anfertigung von gewickelten Komponenten wird zur Gewährleistung der Produktqualität empfohlen, eine HiPot-Prüfung (AC/DC) durchzuführen, Isolationswiderstand (IR) und Gleichstromwiderstand (DCR) zu messen, eine Impuls-Wicklungsprüfung (IWT) durchzuführen usw. (Siehe Mechanical & Machinery Industry Standard - JB/T 7080)
Der 19036 verfügt über zehn unabhängige Prüfkanäle und ist daher in der Lage, mehrere Motorstatoren mit Hilfe der Scanprüfung gleichzeitig zu prüfen (z. B. 3 dreiphasige Motorstatoren), wodurch die Produktionskapazität gesteigert werden kann.
/Chroma_Page_19036_19-EN.png)
Prüfanwendung von Δ-Spitze-% und Δƒr-% für gewickelte Komponenten
Der Prüfling (DUT) mit minderwertiger Qualität/schlechterem Q-Wert verliert mehr Energie und erzeugt schnell mehr Wärme. Während einer langen Nutzungszeit verschlechtert sich die Qualität aufgrund des Temperaturanstiegs schneller als die des normalen Produkts, sodass die Lebensdauer kürzer ausfällt. Die Untergrenze von Δ-Spitze-% kann durch Verwendung des Produkts ermittelt werden, dessen Qualität/Q-Wert innerhalb des zulässigen Bereichs der Untergrenze am nächsten kommt.
Die Resonanzfrequenz der mitschwingenden Wellenform des Prüflings (DUT) kann von seiner Induktivität und Streukapazität (Cp) beeinflusst sein. Die Festigkeit der Spulenwicklung kann sich auf die Streukapazität (Cp) auswirken. Je fester die Wicklung ist, desto höher ist der Cp-Wert. Je lockerer die Wicklung ist, desto kleiner ist der Cp-Wert. Die Induktivität wird von der Anzahl der Windungen und der Permeabilität (μ) des Eisenkerns beeinflusst. Sind mehr Windungen vorhanden oder ist der μ-Wert höher, ist auch die Induktivität höher. Sind weniger Windungen vorhanden oder ist der μ-Wert niedriger, ist auch die Induktivität niedriger. Die Ober- und Untergrenzen von Δ-Fr-% können durch Verwendung des Produkts ermittelt werden, dessen Induktivität und Streukapazität (Cp) innerhalb des zulässigen Bereichs liegt (zwischen den Ober- und Untergrenzen).
/Chroma_Page_19036_20-EN.png)
▲ Beziehung zwischen Fehlerursachen und Pk-% & Δƒr%
Δ/Y-DCR
Die drei Phasen eines Δ/Y-Typ-Motorstators sind bereits (mit/ohne Nullleiter) miteinander verbunden worden, sodass es unmöglich ist, den DCR jeder einzelnen Phase direkt zu messen. Der Δ/Y-DCR-Modus des 19036 ist jedoch in der Lage, den individuellen DCR-Wert der Wicklung jeder einzelnen Phase für drei unterschiedliche Phasen mittels einer speziellen Formel zu berechnen.
/Chroma_Page_19036_21.png)
/Chroma_Page_19036_22-EN.png)
40-Kanal-Scanprüfung
Beide externen Scanboxen, nämlich A190362 (unterstützt 4-adrige DCR-Messung) und A190359 (unterstützt 2-adrige DCR-Messung), verfügen jeweils über 16 Prüfkanäle. Jeder einzelne Kanal kann auf HIGH (positiv), LOW (negativ) oder NONE (offener Stromkreis) eingestellt werden. Der 19036 kann zusammen mit den externen Scanboxen mehrere Punkte messen und innerhalb eines Prüfstands sämtliche Prüfungen bei mehreren Prüflingen (DUTs) durchführen.
/Chroma_Page_19036_23-EN.png)
/Chroma_Page_19036_24-EN.png)
