Die Fertigung von Halbleitern ist eine schnelllebige Industrie. Während Geräte immer integrierter und multifunktionaler werden, müssen Produktionsmittel gebaut werden, die über mehrere Gerätegenerationen und Anwendungen hinweg Bestand haben. Mit einer Vielfalt an verfügbaren Optionen, z. B. AD/DA-Wandlertest, ALPG für Speichertest, Hochspannungs-PE, mehreren Scankettentests und Analogtest, deckt Chroma 3650-S2 ein breites Feld für unterschiedliche Geräte mit flexiblen Konfigurationen ab. Das System eignet sich insbesondere zur Prüfung von Strommanagementchips und ICs. Dank verschiedenartigem Aufgebot an massefreien VI-Karten, HDDPS2, HVVI, PVI100 und MPVI, kann das 3650-S2 Prüfanforderungen für hohe Präzision, Hochspannung und Hochstrom erfüllen.
Der hohe Durchsatz und die hohe Paralleltestleistung des Prüfgeräts 3650-S2 bieten die kostengünstigste Lösung für Unternehmen ohne eigene Herstellung, Halbleiterhersteller und Prüfanstalten. Mit einem umfassenden Sortiment an Testfunktionen, hoher Genauigkeit, leistungsstarken Softwarewerkzeugen und ausgezeichneter Zuverlässigkeit ist das Chroma 3650-S2 die Testlösung für alle Ihre Hochleistungsgeräte, Microcontroller, Analog-ICs, SoC-Geräte für Konsumenten und Wafersortieranwendungen.
Hochleistung in einem kostengünstigen Produktionssystem
Das Chroma 3650-S2 ist speziell für hohen Durchsatz und hohe Paralleltestleistung entwickelt worden, um die kostengünstigste Lösung für Unternehmen ohne eigene Herstellung, Halbleiterhersteller und Prüfanstalten zu bieten. Dank umfassender Testmöglichkeiten, einer hohen Genauigkeit, leistungsstarker Softwarewerkzeuge und ausgezeichneter Zuverlässigkeit ist das 3650-S2 ideal für die Prüfung von Leistungsmanagementgeräten, Analoggeräten, Verbindungshalbleitern und MCU-Geräten.
Das 3650-S2 bietet eine Vielfalt von VI-Funktionskarten, HDDPS2, HVVI, VI45, PVI100 und MPVI, einschließlich hoher Dichte, einer breiten Auswahl an Spannungs- und Stromversorgungen sowie Messungen hoher Präzision, bis zu 768 digitale I/O-Pins, VI-Pin- und Analogtestmöglichkeiten, sodass eine erstklassige Testleistung und ein ausgezeichneter Durchsatz als kostengünstige Testlösung zur Verfügung stehen.
Hohe Paralleltestleistung
Die leistungsstarke und vielseitige Parallel-Pin-Elektronik des Chroma 3650-S2 kann identische parametrische Prüfungen an mehreren Pins simultan durchführen. Beim 3650-S2 sind 64 digitale Pins auf einer einzelnen LPC-Platine integriert. Jede einzelne LPC-Platine enthält 16 leistungsstarke Chroma-PINF-ICs, die einen Timing-Generator mit 4 Kanälen unterstützen.
Die lokal integrierte Verschaltung der Steuerung bewältigt die Zuteilung von Ressourcen und das Ablesen von Ergebnissen, wodurch die Betriebslasten der Systemsteuerung gesenkt werden. Mit dem Design des Chroma 3650-S2, bei dem sich ein beliebiger Pin einer beliebigen Anlage zuordnen lässt, werden bis zu 32 Anlagen mit hoher Paralleltestleistung hohen Durchsatzes versorgt, um die Massenproduktion mit einem flexiblen und intuitiven Layout zu steigern.
Flexibilität
Da sich die Halbleiterindustrie rasch entwickelt, müssen Produktionsmittel gebaut werden, die mehrere Gerätegenerationen und Anwendungen überleben, sodass sich die Betriebskosten amortisieren. Mit einer Vielfalt an Optionen, z. B. AD/DA-Wandlertest, ALPG für Speichertest, Hochspannungs-PE, mehreren Scankettentests und Analogoptionen, gewährleistet das Chroma 3650-S2, dass es Ihnen für viele Jahre weiterhin gute Dienste leisten wird.
Die Plattformarchitektur des Chroma 3650-S2 ermöglicht eine problemlose Einbindung von fest zugeschalteten Instrumenten, die von Drittlieferanten für spezielle Anwendungen entwickelt wurden. Das System dehnt die Testgrenzen aus, indem es einen breiteren Bereich von Geräten umfasst, als dies je zuvor für ein kostengünstiges Testsystem für die Produktion möglich war.
Kleiner Fußabdruck
Dank seines luftgekühlten Designs mit kompaktem Prüfgerät im Prüfkopf liefert das Chroma 3650-S2 bei Belegung eines Minimums an Bodenfläche einen hohen Durchsatz in einer dicht integrierten Einheit. Zusammen mit einem optionalen Manipulator kann das 3650-S2 für die Prüfung von Einheiten und zur Wafer-Prüfung verwendet werden.
Leistungsfähiges Set mit Softwarewerkzeugen – CRISP
Das Chroma 3650-S2 enthält ein leistungsfähiges Set mit Softwarewerkzeugen, das sich auf die Chroma-integrierte Softwareplattform (CRISP) stützt. Zusätzlich zur leicht verwendbaren Testentwicklungsfunktion deckt CRISP alle Anforderungen an die Fehlersuche für Prüfungen, die Produktion und die Datenanalyse ab. CRISP integriert zudem sämtliche Softwarefunktionen für die Entwicklung von Testprogrammen, Testausführungskontrolle, Datenanalyse und Management des Prüfgeräts in einer Einheit. Basierend auf dem Betriebssystem Microsoft Windows und der Programmiersprache C++ bietet CRISP Nutzern leistungsstarke, schnelle und intuitive GUI-Werkzeuge. Im Werkzeug Projekt-IDE können Testentwickler mühelos zwischen Standardvorlagen, benutzerdefinierten Vorlagen und dem auf dem C++-Code basierenden Editor hin und her wechseln, um ihre Testprogramme schnell zu erstellen und automatisch auf mehrere Anlagen für Parallelprüfungen anzuheben. Es kommt noch besser, denn CRISP verfügt auch über Testprogramm- und Testmusterkonverter, um Prüfungen von anderen Testplattformen leichter in das 3650-S2-Format umzuwandeln.
Die Ausführungssteuerung für Testprogramme ist mit zwei schaltbaren Werkzeugen ausgestattet, dem Werkzeug Systemkontrolle und dem Werkzeug Plan-Debugger, sodass Nutzer in der Lage sind, effizienter im Normal- oder auch im Fehlersuchmodus zu arbeiten. Im Werkzeug Plan-Debugger können Nutzer die Ausführung des Testprogramms durch Einstellung von Breakpoint, Schritt, Hineinschreiten, Hinüberschreiten, Fortsetzung der Ausführung sowie Beobachtung und Modifizierung von Variablen steuern. Zum Zweck der Fehlersuche bei Prüfungen und der Datenanalyse verfügt CRISP über zahlreiche Software-Utility-Werkzeuge. Die Werkzeuge Datalog, Wellenform und Umfang sind dazu vorgesehen, eine deutliche Anzeige der gemessenen Daten und der digitalen Wellenformen zu unterstützen. Zur Auffindung der parametrischen Begrenzung können die Werkzeuge SHMOO und Pin-Margin mühelos eine Fehlersuche durch Ausführung des automatischen oder des manuellen Modus bewerkstelligen. Die Werkzeuge Wafer-Zuordnung, Zusammenfassung, Histogramm und STDF sind äußerst hilfreich bei der effektiven Erfassung der Testergebnisse und Analyse der parametrischen Charakterisierung.
Die Werkzeuge Prüfbedingungsüberwachung und Muster-Editor verfügen über ausgezeichnete Funktionen für die Fehlersuche während der Betriebszeit und ermöglichen Nutzern, Prüfbedingungen oder Musterdaten ohne Unterbrechung der Prüfung oder Modifizierung der Quelldateien zu ändern. CRISP verfügt auch über die Werkzeuge ADDA und Bit-Zuordnung für analoge und ALPG-Optionen. Mit dem ADDA-Werkzeug können Nutzer nicht nur die AD / DA-Testergebnisse mit Hilfe des Grafikwerkzeugs anzeigen, sondern auch mühelos ihre eigenen ADC-Muster erstellen. Dieses umfangreiche Set an leistungsstarken GUI-Werkzeugen wird zweifelsohne Ihren gesamten Bedarf bezüglich der Fehlersuche bei Prüfungen und der Erzeugung von Prüfberichten abdecken.
Das OCI-Werkzeug ist die CRISP-Lösung für die Massenproduktion. Es ermöglicht eine mühelose und korrekte Bedienung – die wichtigste Anforderung für den Produktionslauf. Programmierer können das OCI-Werkzeug im Menü für das Produktionssetup anpassen, um den Anforderungen der Produktionsumgebung im Voraus gerecht zu werden. Der Bediener muss dann nur noch den geplanten Prozess auswählen und die Massenproduktion starten.
Peripheriegeräte
Das Chroma 3650-S2 verfügt über mehrere Treiber für die Kommunikation mit dem Handler und Prober über die GPIB- und TTL-Schnittstelle. Zu den unterstützten Handlern und Probern gehören CHROMA, SEIKO-EPSON, HONTECH, SHIBASOKU, MULTITEST, ASECO, DAYMARC, TEL, TSK und OPUS. Zudem bietet das 3650-S2 eine Adapterplatinenlösung für bestehende Testplattformen, um eine Migration der Testplattform zu erleichtern und Nutzerkosten zu senken. Mit dieser Adapterplatine ist das 3650-S2 in der Lage, Geräteschnittstellen- (DIB) und Sondenkarten anderer Prüfgeräte direkt aufzunehmen, wodurch die Kosten für die Herstellung neuer Last- und Sondenkarten entfällt.
Unterstützung für Anwendungen
Chroma bietet neuen und bestehenden Kunden Unterstützung für Anwendungen. Auf Nachfrage kann Chroma eine angepasste Unterstützung bereitstellen, die für Ihren speziellen Bedarf ringsum entwickelt wurde. Ob Sie nun die Produktion beschleunigen müssen, Kapital aus entstehenden Marktgelegenheiten ziehen, die Produktivität steigern oder Prüfungskosten mit innovativen Strategien senken möchten, das weltweite Kundendienstteam von Chroma macht es sich zur Aufgabe, zeitnahe und effektive Lösungen für Sie zu erstellen.
