Laserdioden werden immer allgegenwärtiger. Die aktuellen Anwendungen reichen von der Medizintechnik über die Verteidigung bis hin zum kritischen Rückgrat weltweiter Glasfaser-Kommunikationsnetze. Bei der Herstellung von Laserdioden sind mehrere hochpräzise Prozesse eingebunden. Diese Prozesse sind alle sehr kostenintensiv und reichen vom Wafer-Wachstum bis hin zur Faserausrichtung und der Hochgeschwindigkeitsprüfung von Gehäusen.

Die Charakterisierungsstation für Laserdioden Chroma 58620 ist ein hochmodernes, schlüsselfertiges System, das speziell für Laserdioden entwickelt wurde. Seine Merkmale reichen von der Makroinspektion der aktiven Fläche der Facette oder Blende bis hin zu einer kompletten Reihe elektro-optischer Parameterprüfungen. Wird der leistungsstarke Träger von Chroma verwendet, können mehrere Geräte schnell und wiederholbar indiziert werden, was nicht nur die Testzeiten, sondern auch die Zuverlässigkeit der Tests selbst verbessert. Der Chroma 58620 ist mit einer hochstabilen, großformatigen Temperaturplattform ausgestattet, was die Möglichkeit bietet, Prüfungen im F&E-Stil in eine Produktionsumgebung zu integrieren. Damit kann die Korrelation zwischen Durchlassstrom der Laserdiode und Temperatur untersucht werden.

Chromas hochpräziser Träger kann an verschiedene Formfaktoren wie Chip on Carrier, Submounts oder Laser-Barren angepasst werden. Das innovative zweiseitige Design ist symmetrisch mit beidseitig platzierten Komponenten. Damit wird ein größeres Volumen an Komponenten ermöglicht. Der Träger ist mehrschichtig aufgebaut, so dass die Komponenten leicht in die jeweiligen Taschen eingesetzt und gesichert werden können, wenn die anderen Schichten montiert wurden. Die thermische Schnittstellenstruktur ermöglicht einen effizienten thermischen Kontakt der Komponenten sowie eine präzise Temperaturregelung während der Aufheiz- und Kühlzyklen. Auf Knopfdruck kann ein Bediener nach dem Einsetzen eines Trägers eine vollautomatische Prüfung durchführen.

Einige der Hauptanwendungen für Hochleistungslaserdioden sind die Bereiche optische Daten und Telekommunikation, wo die Anforderungen an die Faserkopplung sehr hoch sind. Wenn die meisten parametrischen und optischen Gleichstromeigenschaften verstanden werden, bevor eine Laserdiode in das Endprodukt eingesetzt wird, ergeben sich höhere Kosteneinsparungen und eine höhere Zuverlässigkeit im Betrieb. Der Chroma 58620 ist mit einer vollautomatischen Ausrichtstation zur Simulation eines realen Faserpaket-Kopplungstests ausgestattet, mit dem Kopplungseffizienz und spektrale Leistung vorhergesagt werden können. Mehrere optische Abtaster und Fasern können verwendet und mit einem optischen Empfänger zu einem optischen Spektrumanalysator (OSA) gekoppelt werden. So können vollständige spektrale Eigenschaften wie Side Mode Suppression Ratio und Zentralwellenlänge analysiert werden (λp, λc). Da jedes Gerät mit Daten rückverfolgbar ist, bietet der Chroma 58620 die Möglichkeit, die rein optische Leistung mit endgültigen Leistung in Beziehung zu setzen und unterstützt die Begründung einer reduzierten Prüfanforderung an den abschließenden Leistungstest.

Ausgehend vom aktuellen Technologiestand der Halbleiter-IC-Prüfungen, führte Chroma mit dem 58620 die Stapelverarbeitung über Sharing Carrier und Wechselkit bei der Laserdiodenindustrie ein. Der Träger schützt die Laserdiode vor der unnötigen Handhabung und Beschädigung, da er als Prüflos durch den Burn-in- und Testprozess geführt wird. Dazu setzt er die entsprechenden Haken für die Datenverfolgung und erhöht somit Produktivität und Ertrag. Dieser gleiche Träger kann auch für den Betrieb mit dem Optoelektronischen SMU-Modul Chroma 58601 für nahtlose Burn-in und Prüfverfahren verwendet werden. Mit dem Wechselkit für den 58620 können die Systeme an verschiedene Formfaktoren und Merkmale angepasst werden, wenn sich der Typ der zu prüfenden Laserdiode ändert (durch Designänderung oder ein neues Produkt). Dank dieser Flexibilität können TO-Can, Chip on Carrier, Laser-Barren, etc. mit einer einzigen Lösung geprüft werden.

Extern und intern induzierte thermische Belastungen von Laserdioden beeinflussen spektrale und andere elektro-optische Eigenschaften sehr stark. Dafür besitzt der Chroma 58620 eine hochpräzise Temperatursteuerungsplattform Chroma 54130-300W TEC Steuerung und einen Chroma 51101 Datenlogger. Diese gelten als Weltklasse-Instrumente mit denen die Gleichmäßigkeit der Trägertemperatur und damit der zu prüfenden Objekte gewährleistet wird. Auf der Trägerplattform befinden sich mehrere Temperatursensoren, die eine hohe Temperaturgleichmäßigkeit und -stabilität gewährleisten.