Chroma ATE bringt neue Testsysteme für True Wireless Stereo (TWS)-Chips auf den Markt, die drahtlose HF- und MCU-Tests als auch digitale, analoge und gemischte Signalmessungen in einer Testlösung abdecken. Die kostengünstigen Chroma 3380-Testsysteme stellen preisbewusste IC-Entwickler zufrieden, während die fortschrittlichen Chroma 3680-Testsysteme schnelle und umfassende Tests bieten, um innovative und hochempfindliche TWS-Chiptestanforderungen zu erfüllen.

Die für TWS verwendeten Chips haben sich in den letzten Jahren immer mehr durchgesetzt. Wurden sie in den ersten Jahren nur in Ohrhörer eingebaut, mit einfachen ICs für Bluetooth- und Audiosignale, so werden TWS-Chips heute in intelligenten Lautsprechern, drahtlosen Lautsprechern und sogar in Wearables eingesetzt. Ebenso hat sich die Erprobung von TWS-Chips von rein drahtlosen Bluetooth-, Digital- und Signaltests auch auf Stromversorgung, Speicher, Sensor und mehr erweitert.

Chroma-ATE-Halbleitertestlösungen werden von der Industrie seit langem für ihren hohen Grad an Software- und Hardware-Integration sowie für ihre qualitativ hochwertigen digitalen und analogen Halbleitertests zu vertretbaren Preisen anerkannt. Darüber hinaus nimmt die Serie Chroma 3380 eine führende Position auf dem chinesischen MCU-Testmarkt ein. Die Serie Chroma 3380 bietet auch umfassende Bluetooth-HF-Tests mit eingebauter Funktionalität, die ein Signal-Rausch-Verhältnis von mehr als 90 dB bei Audiotests ermöglicht, um alle Testanforderungen aus einer Hand zu erfüllen. Für anspruchsvolle und hochempfindliche Produkte führt die Serie Chroma 3680 Hochgeschwindigkeits-Signaltests durch und liefert Spannungs- und Strommessungen mit hoher Präzision. Dabei unterstützt ihr Mixed-Signal-Mess-Subsystem ein Signal-Rausch-Verhältnis von über 110 dB. Die speziell entwickelte, schnell anzuschließende bzw. zu lösende HF-Signalverbindungsschnittstelle verleiht den Chroma 3680-Testsystemen eine hohe Stabilität bei der Erprobung von Highend-TWS-Produkten.

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