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Chroma局部放电测试器系列产品结合高电压耐压测试与局部放电(Partial discharge)侦测功能于一单机，提供电驱动隔离控制IC、 光耦合器、隔离电源变压器、IGBT模组或基板材料等之异常局部放电测试，让产品安全性更上一层楼。
局部放电测试器
局部放电测试器
Model 19501-K
- 单机内建高电压耐压测试与PD侦测功能
- 可程式交流电压 0.1kVac~10KVac
- 高精度及高解析度电流表 0.01uA~300uA
- 局部放电(PD)侦测范围 1 pC~2000 pC
局部放电测试器
Model 19501
- 交流高压输出&PD量测与主机分离式设计
- 内建法规测试要求的测试方法
- 三段电压测试方法
- PD不良发生次数判定设定(1~10)
- 测试应用：IGBT、SiC-MOSFET、光耦合器、数位隔离器、控制隔离IC、隔离型D/D电源、大小型变压器、马达等
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