烧机测试、信赖性测试与寿命测试
Chroma 58604的高密度、多功能、温控模块， 提供雷射二极体老化测试。 每个模块可提供高达256个SMU通道，每个通道可以在各式控制模式下供电流、量测电压。
自动电流控制模式(ACC)
自动电流控制模式(Auto Current Control Mode, ACC)，控制电路提供很稳定的电流给每一个雷射二极体。不管被测的雷射二极体的电阻、温度改变，测试期间的供应电流将保持一定值，电压值则被记录下来作为品质的参考参数。
自动功率控制模式 (APC)
在自动功率控制模式 (Auto Power Control Mode, ACC)下， 依据外部光二极体(PhotoDiode)PCB板传送的回馈讯号，控制电路可以自动调整雷射二极体的电流，保持固定的回馈讯号强度。 这表示测试期间的输出光强度一直保持在一定值。 电压与电流值则被记录下来作为品质的参考参数。
温度控制
专利设计的加热板(Heat Plate)能够很精确地控制雷射二极体抽屉箱的温度，同时有很好的稳定性与均温性。 与烤箱或温控腔(Oven or Chamber)类型的雷射二极体老化系统测试比较，Chroma的解决方案更加精简、容易操作，更佳的效能与节省能源(Energy Saving)。 客户端的好处是，雷射二极体上留下极小痕迹、多样性运作、以及容易维护。
个别模块操作
客户可以在不同的模块设定不同的温度，以及不同的开始测试时间与结束测试时间。 如此测试运作有很大的弹性。
保护机制可以关闭个别通道
控制电路同时也设计成雷射二极体的保护电路，不会有电流或电压的突波产生伤害待测物。 电流和电压的高/低限制可以触发关闭个别通道的保护机制。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可正常运作。除了将保护功能设计在控制电路内，通道绝缘(Isolation)与静电(ESD)保护也在系统设计的考量之中。
通讯中断恢复后数据自动写入
老化测试资料储存在系统的电脑中或选购的远端伺服器。当系统模块与远端伺服器通讯暂时中断时，资料可暂存于模块中达6小时以上，通讯恢复连线之后，暂存于模块中的资料可写入系统连线的电脑中或远端伺服器内，没有资料遗失。
软件接口操作容易
控制软件提供直觉式的视觉接口，在测试期间简单地使用滑鼠直接点选想查看的某个模块的某个测试元件，查询方便。烧机测试原始资料储存于Microsoft Excel相容的档案中，可做日后进一步分析之用。选购的条码机系统可以运用在测试管理。
▲ 可自由的选定被测物条件
▲ 一目了然的测试数据
▲ 简便的校正设定接口
▲ TO-CAN 载具
▲ CoC 载具
▲ 测试治具
