Chroma 58604C的高密度、多功能，提供雷射二极体老化测试。每个模组可提供高达256个SMU通道，每个通道可透过软体，设定不同的电流值，并量测电压。每个机柜最高可容纳七层模组，达到1,792个SMU通道。

在自动电流/电压控制（ACC/AVC）模式下，控制电路可提供非常稳定的电流给每个雷射二极体。不管烧机中的雷射二极体有电压或者温度变化，烧机测试期间的供电流将保持预先设定好的固定值，电压值则会被量测并记录下来作为品质的参考依据。

客户可以在不同的模组设定不同的电流条件、操作模式（ACC/AVC），以及不同的起始时间与老化期间。模组化独立控制所带来的好处，是提供更多的使用弹性，不同模组可同时测试不同的待测物，并且不产生电性间的干扰。

独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极体，不会有电流或电压的突波产生，意外造成待测物的伤害。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全通道的SMU也包含通道绝缘（Isolation）与静电（ESD）保护，形成完整的隔离防护。

烧机测试资料将储存在系统的本地电脑中或指定的远端伺服器。当模组与系统电脑通讯暂时中断时，资料可暂存于模组中达72小时以上（以每3分钟一笔量测资料计算），当通讯恢复连线之后，暂存于模组中的资料将自动写入系统电脑中或远端伺服器，不会发生资料遗失。