Chroma 58605的高密度、多功能、温控模组，提供雷射二极体老化测试。每个模组可提供高达128个SMU通道，每个通道可透过软体，设定不同的电流值，并量测电压。

在ACC模式下，控制电路可提供非常稳定的电流给每个雷射二极体。不管烧机中的雷射二极体有电压或者温度变化，烧机测试期间的供电流将保持预先设定好的固定值，电压值则会被量测并记录下来作为品质的参考依据。

依据外部光电二极体 (Photodiode) 受光激发所产生的回馈讯号，控制电路可以自动调整雷射二极体的电流保持固定的回馈讯号强度。这表示待测物在烧机期间的输出光强度能一直保持在一个固定值。电压与电流值则被记录下来作为品质的参考依据。

专利设计的控温平台 (Thermal plate) 能够精确控制雷射二极体的外壳温度或基板温度，同时有很好的稳定性与均温性。相较烤箱或烘烤炉类型的雷射二极体老化系统，Chroma的解决方案更加精简、容易操作，更佳的效能与节省能源。另外，探针在待测物上仅留下极小痕迹，适合多样性运作以及容易维护。

客户可以在不同的模组设定不同的烧机温度、电流条件、操作模式(ACC/APC)，以及不同的起始时间与烧机期间。模组化独立控制所带来的好处是提供更多的使用弹性，不同模组可同时测试不同的待测物，并且不产生电性或温度的干涉。

独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极体，不会有电流或电压的突波产生，意外造成待测物的伤害。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全通道的SMU也包含通道绝缘(Isolation)与静电 (ESD) 保护，形成完整的隔离防护。

烧机测试资料将储存在系统的本地电脑中或指定的远端伺服器。当模组与系统电脑通讯暂时中断时，资料可暂存于模组中达6小时以上，当通讯恢复连线之后，暂存于模组中的资料将自动写入系统电脑中或远端伺服器，不会发生资料遗失。