本eDP BIST模块，可提供面板进入BIST模式需要的信号与面板所需电源。搭配上Chroma Aging System可提供eDP面板老化完整检测方案。模块采抽柜式炉体架构，每个Rack可透过控制器进行多项烧机测试功能。本模块可整合电控、信号，并经过简易之人机操作接口，以最短之时间完成最强大之功能测试。