Chroma 8020 配接器/充电器自动测试系统适用于生产线上测试配接器与充电器的测试系统，8020可支援同时一次测试多颗待测物，大幅提升生产线产能，并且兼具Chroma 8000系统灵活的硬体架构，可选择多种硬体例如交流电源供应器、电子负载、时序/杂讯分析仪、功率表等。

8020特别针对配接器与充电器特性，量身订作并优化标准测试项目，测试效能佳，符合大量生产要求，另外，软体功能操作简单，容易使用，符合生产线需求。

Chroma 8020 测试系统已针对业界的新测试需求，扩充硬体与增加新的测试项目例如符合Energy Star要求的平均效率测试等。另针对业界未来的新测试需求，可弹性加入具有报表制作、统计分析和管理功能的Chroma 8020测试系统软体，能够产生各种测试报表，进行系统管理，满足现代化品保和生产线的需求。另外，此系统也能与制造资讯系统(Shop-Floor System)连线，以控制生产流程。

Chroma 8020 自动测试系统运行于Windows7/10以上的作业环境下，在简单易学的Windows环境下为测试工程师提供专用的电源测试系统，并且方便使用Windows资源。

Chroma 8020自动测试系统配备了针对待测物(配接器/充电器)特性优化后之标准测试项目，使用者只需在标准测试项目上定义测试条件和测试规格即可测试。优化后的测试项目涵盖了7类电源测试要求：输出特性(Output Performance)检测待测物的一般性能、输入特性(Input Characteristic)检测电源的输入参数、稳定度测试(Regulation Tests)检测待测物在输入电源和负载变化时的稳定性、时序和瞬态(Timing & Transient)测量开机及关机时的瞬时状态及各事件的时间、保护测试(Protection Tests)触发电源的保护电路、特殊测试(Special Tests)和特殊功能(Special Features)提供了测试电源的特殊功能与方法。

Chroma 8020自动测试系统的软件平台，特别针对生产在线使用所需，整个软件功能操作简单。Chroma 8020自动测试系统的软件运行于Windows7/10以上的作业环境，为其提供了必要的外围支持。

Chroma 8020自动测试系统适合现代化的大规模量产生产线，可搭配支援Chroma Sajet制造资讯系统(Manufacturing Execution System, MES)进行测试站别、人员、产品序号及测试程式的控制与管理，以及测试数据上传中央伺服器功能，达到测试程式集中管理与数据资料搜集/报表分析等应用，协助客户完成智能工厂之目标，提高产品品质、效能，降低生产成本，创造企业利益最大化。另Chroma可提供客制化Shop-Floor控制系统服务，连结客户厂内既有MES，到目前为止已协助众多海内外世界级制造大厂完成MES系统整合之实绩案例。

此外，因应工业4.0全自动智能产线趋势，Chroma 8020自动测试系统也完成系统硬体设备的状态自检功能，在每一次产品测试结束后便自动进行各硬体设备的状态检视，当有测试设备或系统发生异常时，Chroma 8020系统可整合数位I/O装置，输出数位讯号通知管理中心，并在本地端电脑将「系统开始测试时间」、「系统结束测试时间」，以及发生异常错误的讯息纪录下来，方便使用者追朔参考、统计问题，以调整设备维护周期与调配。

研究发现智能型手机使用电容屏的多点触控屏幕，在充电过程中来自AC-DC充电器所产生的共模噪声电压突波在触控时进入面板，严重影响触控性能，常导致触控读取不准确或造成假性触控讯号，因此手机厂商合力制定IEC62684标准，规范电池充电器的噪声频谱规格。

IEC62684 MoU标准规范定义了行动装置充电器的共模噪声的组成成分、规格限值与量测设置建议，致茂电子共模噪声测试解决方案符合IEC62684规范要求且能快速稳定地进行充电器共模噪声量测；Chroma 80611 时序/噪声分析仪内建4Mhz低通滤波器，可滤除<250ns高频noise，符合可忽略<250ns高频noise的量测要求，搭配Chroma 8020系统达到自动化测试，满足产线快速量产测试需求。

充电器共模噪声基本测试架构

设备	型号	应用
输入源	Chroma 6500/61600/61500 AC Source	IEC62684规范要求测试输入电压253Vac/50Hz
高通滤波器	Chroma设计	滤除50Hz基频涟波成分，且不会造成高频noise衰减失真
▲ 上述波形CH2含50Hz基频涟波成分，CH1为经HPF滤波后，没有造成高频noise衰减或失真
共模噪声量测仪	Chroma 80611时序/噪声分析仪	内建4MHz LPF可滤除<250ns高频noise，符合IEC62684规范要求

与示波器量测比较

Chroma 80611 时序/噪声分析仪采用模拟电路量测方式应用于敏感的共模噪声量测，可有效排除不稳定、不连续等非预期的干扰突波，稳定正确的量测共模噪声；另外Chroma 80611的差模量测架构有别于示波器共地架构，可避免在multi-UUT测试时，待测物输出共地造成噪声特性互相影响问题。

示波器是以Digitizing方式量测，会量测所有screen上或cursor内的max峰值，包括不连续/不稳定的噪声，及并非待测物本身特性产生的不想要量测到外来的干扰噪声。