Chroma 正式推出 3650-S2 系列测试机的全新 UIS(Unclamped Inductive Switching) 功能模块，专为半导体组件的雪崩测试设计，特别适用于第三代半导体氮化镓（GaN）和碳化硅（SiC）组件。这一新功能模块旨在解决测试长期存在的问题—无法获得完整且准确的测试数据与波型数据。

随着第三代半导体材料的快速发展，特别是在电动车和高效能电源转换器等应用领域，对这些先进组件的准确测试需求也越来越高。然而，现有的测试设备往往无法提供全面且详细的准确数据，对工程师的分析工作造成困难。

Chroma 的新UIS功能模块配备了先进的高速数据抓取 ADC 架构，能够精确捕捉测试过程中的参数细节，并生成完整的波型数据。这一突破性功能帮助工程师深入分析组件的瞬态现象和电气特性，准确识别产品的优缺点。

相较于市场上的其他产品，Chroma UIS功能模块在测试精度和稳定性方面大幅提升。该模块有效解决了电感值随电流变动的问题，并提供高分辨率的波形捕捉能力，协助客户快速发现组件的特点和潜在问题。

此外，该模块具备高电压和高电流测试能力，并配备多项完善的安全保护机制，包括过电压和过电流保护，确保测试过程的安全性。内建的自动数据记录和分析工具大幅提升了测试量产和工程分析的效率，降低了人工处理中的错误。

Chroma 的UIS功能模块不仅提升了第三代半导体测试的精度和效率，也使得测试过程变得更加安全和可靠。这一创新功能将协助客户在激烈的市场竞争中取得优势，为未来的半导体技术发展提供强有力的支持。Chroma 致力于不断推动技术进步，确保客户在实现高效能和高可靠性测试的道路上始终领先一步。

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